一种光电干扰装备的干扰激光测试装置及方法

    公开(公告)号:CN118067363B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410472782.2

    申请日:2024-04-19

    Abstract: 本申请属于激光测试领域,具体公开了一种光电干扰装备的干扰激光测试装置及方法,该装置包括:无人机、光电吊舱和地面控制设备,光电吊舱挂载于无人机的下方;光电吊舱内设置有激光指示模块和激光告警模块;激光指示模块用于基于指示激光配置参数,发射能够激励光电干扰装备的指示激光对地面目标进行激光照射;激光告警模块用于探测光电干扰装备发射的干扰激光,以及基于指示激光配置参数和干扰激光探测数据,生成干扰激光测试结果,并发送干扰激光探测数据和测试结果至地面控制设备;地面控制设备用于控制无人机和光电吊舱的各组成模块,确定指示激光配置参数,显示干扰激光探测数据和测试结果,实现灵活高效地测试光电干扰装备的干扰激光。

    一种基于偏振相机均匀性矫正装置的矫正方法

    公开(公告)号:CN115031843B

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210957434.5

    申请日:2022-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏振相机均匀性矫正装置的矫正方法,该矫正装置包括第一线偏振片和第二线偏振片,该矫正方法包括:将第一线偏振片固定在相对于偏振相机的0°偏振方向;确定第二线偏振片相对于偏振相机的0°偏振方向,然后从该0°偏振方向开始,将第二线偏振片分别调节到不小于12个的偏振方向,并在每调节一个偏振方向时,采集偏振相机不同像素输出的光强分量;然后根据该光强分量及偏振相机的零偏,计算偏振相机中偏振感光元件对光的响应矢量,并根据实际光的偏振度和偏振角对该响应矢量进行矫正,从而完成该偏振相机的均匀性矫正。本发明可实现利用普通的非均匀光来完成对偏振相机均匀性的矫正,有利于大规模推广。

    激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统

    公开(公告)号:CN104392118B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201410639760.7

    申请日:2014-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统,方法包括步骤:S1、确定漫反射板假目标布设要素,所述布设要素包括布设方位/板面朝向、引偏空间、布设距离和布设数量;S2、建立漫反射板假目标布设要素的评估模型;S3、建立漫反射板目标防护效能评估模型,将假目标的布设信息和被保护目标信息代入各评估模型即得到各项的评估,与布设要素权重相乘求和即可评估出假目标的防护设效能。实施本发明可克服常用的专家评估法中主观因素和知识结构水平的影响,实现激光引偏干扰系统中漫反射板假目标防护效能的实时、自动评估。

    一种激光器Q开关性能测试方法及装置

    公开(公告)号:CN104330243B

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201410648641.8

    申请日:2014-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种激光器Q开关性能测试方法及装置,装置包括按照光路方向依次放置且同轴的连续激光器、起偏器、1/4波片、检偏器和激光能量计,待测Q开关放置在起偏器波片之间;装置还包括带有刻度的旋转架,起偏器、Q开关、1/4波片和检偏器安装在带有刻度的旋转架上以计量其相位方位。本发明方法和装置通过测量连续激光通过光路后的能量变化情况,为Q开关性能的检测和调整提供了一种量化方法,可很好地运用于脉冲激光器Q开关性能的测试与检修中。

    一种激光引偏干扰环境态势图生成系统

    公开(公告)号:CN104407339B

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201410670359.X

    申请日:2014-11-21

    Abstract: 本发明公开了一种激光引偏干扰环境态势图生成系统,系统包括设备布设态势子模块和假目标引偏态势子模块;设备布设态势子模块用于生成设备布设态势图,以显示引偏干扰系统子设备的数量、布设参数以及相对于被保护目标的位置关系,子设备包括激光告警单元、光电干扰车和假目标,布设参数包括子设备的布设的方位、距离、水平基准和方位基准;假目标引偏态势子模块用于生成假目标引偏态势图,以显示假目标的位置、假目标引偏角度区域信息、假目标的布设参数。实施本发明可解决现有环境态势图显示的设备布设信息不完整、未能突出引偏干扰中的引偏盲区的技术问题。

    激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统

    公开(公告)号:CN104392118A

    公开(公告)日:2015-03-04

    申请号:CN201410639760.7

    申请日:2014-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种激光引偏干扰漫反射板假目标防护效能评估方法及系统,方法包括步骤:S1、确定漫反射板假目标布设要素,所述布设要素包括布设方位/板面朝向、引偏空间、布设距离和布设数量;S2、建立漫反射板假目标布设要素的评估模型;S3、建立漫反射板目标防护效能评估模型,将假目标的布设信息和被保护目标信息代入各评估模型即得到各项的评估,与布设要素权重相乘求和即可评估出假目标的防护设效能。实施本发明可克服常用的专家评估法中主观因素和知识结构水平的影响,实现激光引偏干扰系统中漫反射板假目标防护效能的实时、自动评估。

    一种机载激光水下鱼群目标探测系统

    公开(公告)号:CN118276048B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410703725.0

    申请日:2024-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种机载激光水下鱼群目标探测系统。它包括激光发射单元、接收探测单元、同步控制单元、数据处理单元、定位定向单元和综合显控台,所述激光发射单元用于发射双频脉冲激光;所述接收探测单元用于接收水面反射的长波激光和水下场景反射的短波激光;所述同步控制单元用于向激光发射单元发送发射指令,用于控制接收探测单元的选通参数;所述定位定向单元用于检测移动设备的位姿信息;所述数据处理单元用于根据短波反射激光信息、位姿信息进行测线拼接获取水下二维图像;所述综合显控台用于显示广域二维图像。本发明基于距离选通成像技术,无需横向扫描即可覆盖较宽的航带宽度,具有空间分辨率高、成本适中的优点。

    一种DFB激光器输出激光频率的测量装置

    公开(公告)号:CN114993485B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN202210839156.3

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明公开了一种DFB激光器输出激光频率的测量装置,包括:低透高反镜,用于将DFB激光器输出的激光分为反射光和透射光,并使透射光穿过充有碱金属颗粒的吸收气室;反射组件,包括反射镜和半透半反镜,反射镜用于改变反射光的方向,半透半反镜用于再次改变反射光的方向,同时使透射光透射为检测光;光电探测器,用于探测检测光的饱和吸收光谱信号;信号处理系统,用于获取并对该饱和吸收光谱信号进行分析,得到该光谱信号中凹陷信息,然后根据凹陷信息对DFB激光器输出的激光频率与调制电压的依赖关系进行拟合,最后根据拟合结果计算得出调制电压为零时DFB激光器输出的激光频率。本发明提供的测量装置具有测量精度高、价格低廉的特点。

    一种基于偏振相机均匀性矫正装置的矫正方法

    公开(公告)号:CN115031843A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202210957434.5

    申请日:2022-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏振相机均匀性矫正装置的矫正方法,该矫正装置包括第一线偏振片和第二线偏振片,该矫正方法包括:将第一线偏振片固定在相对于偏振相机的0°偏振方向;确定第二线偏振片相对于偏振相机的0°偏振方向,然后从该0°偏振方向开始,将第二线偏振片分别调节到不小于12个的偏振方向,并在每调节一个偏振方向时,采集偏振相机不同像素输出的光强分量;然后根据该光强分量及偏振相机的零偏,计算偏振相机中偏振感光元件对光的响应矢量,并根据实际光的偏振度和偏振角对该响应矢量进行矫正,从而完成该偏振相机的均匀性矫正。本发明可实现利用普通的非均匀光来完成对偏振相机均匀性的矫正,有利于大规模推广。

    一种DFB激光器输出激光频率的测量装置

    公开(公告)号:CN114993485A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210839156.3

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明公开了一种DFB激光器输出激光频率的测量装置,包括:低透高反镜,用于将DFB激光器输出的激光分为反射光和透射光,并使透射光穿过充有碱金属颗粒的吸收气室;反射组件,包括反射镜和半透半反镜,反射镜用于改变反射光的方向,半透半反镜用于再次改变反射光的方向,同时使透射光透射为检测光;光电探测器,用于探测检测光的饱和吸收光谱信号;信号处理系统,用于获取并对该饱和吸收光谱信号进行分析,得到该光谱信号中凹陷信息,然后根据凹陷信息对DFB激光器输出的激光频率与调制电压的依赖关系进行拟合,最后根据拟合结果计算得出调制电压为零时DFB激光器输出的激光频率。本发明提供的测量装置具有测量精度高、价格低廉的特点。

Patent Agency Ranking