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公开(公告)号：CN118378312B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410830176.3
申请日：2024-06-25
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
IPC分类号： G06F21/73
摘要： 本申请涉及一种SRAM物理不可克隆函数电路及设备。包括供电控制模块、第一控制模块、单端口SRAM存储器、数据位加法器模块、使能位加法器模块、多位选择器模块和第二控制模块。在PUF控制信号有效时，通过供电控制模块使单端口SRAM存储器能够自动化的进行多轮上/断电操作，数据位加法器模块对单端口SRAM存储器的输出值进行累加，使能位加法器模块产生累加次数信号，多位选择器模块根据累加次数信号、单端口SRAM存储器的输出及使能位加法器模块的输出物理不可克隆随机值。自动化的多次累加SRAM物理不可克隆函数电路的随机输出值，大大提高了随机输出数据的稳定性。
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公开(公告)号：CN118378312A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410830176.3
申请日：2024-06-25
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
IPC分类号： G06F21/73
摘要： 本申请涉及一种SRAM物理不可克隆函数电路及设备。包括供电控制模块、第一控制模块、单端口SRAM存储器、数据位加法器模块、使能位加法器模块、多位选择器模块和第二控制模块。在PUF控制信号有效时，通过供电控制模块使单端口SRAM存储器能够自动化的进行多轮上/断电操作，数据位加法器模块对单端口SRAM存储器的输出值进行累加，使能位加法器模块产生累加次数信号，多位选择器模块根据累加次数信号、单端口SRAM存储器的输出及使能位加法器模块的输出物理不可克隆随机值。自动化的多次累加SRAM物理不可克隆函数电路的随机输出值，大大提高了随机输出数据的稳定性。
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公开(公告)号：CN110197069B
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN201910388014.8
申请日：2019-05-10
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
IPC分类号： G06F21/56
摘要： 本发明公开一种兼容故障扫描测试实现A2木马检测的方法及装置，步骤包括：S1.在待测芯片的门级网表生成阶段插入多功能控制器以及一个以上的复合型环形振荡器，多功能控制器控制各复合型环形振荡器的工作模式；S2.对待测芯片执行故障测试时，配置多功能控制器，使各复合型环形振荡器的工作模式在扫描移位阶段时交替变化以增强可疑信号的跳变，或者使各复合型环形振荡器在响应捕获阶段的指定时长内处于振荡状态，使得在执行故障测试过程中能够将A2木马检测出来。本发明具有实现方法简单、面积开销小、检测效率高以及能够在故障测试的早期阶段检测出A2木马等优点。
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公开(公告)号：CN110135158A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910313352.5
申请日：2019-04-18
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明公开一种基于热梯度阵列的无母本硬件木马检测方法，步骤包括：S1.预先将多个不同级数的环形振荡器作为热梯度阵列填充至目标芯片的逻辑空余区；S2.对目标芯片进行检测时，获取目标芯片在热工作模式时的红外图像；S3.根据红外图像获取热梯度阵列的热增量图；S4.判断步骤S3获取到的热增量图与原填充设计时热梯度阵列的标准热增量图相比是否存在缺失或改变，如果是判定有硬件木马植入。本发明具有实现方法简单、成本低、能够实现各种硬件木马植入方式的精确检测，同时使得硬件木马植入难度高等优点。
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公开(公告)号：CN118740390A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410787632.0
申请日：2024-06-18
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明公开一种基于安全协议的数据流转有限状态机实现方法及装置，该方法步骤包括：获取阶段判断信号以及服务器控制寄存器验证信号，以确定当前所处的处理阶段；依次进入注册阶段、第一及第二认证阶段。在注册阶段，通过PUF模块、Hash模块和Flash模块进行数据流通，实现协议向服务器端注册用户信息；在第一认证阶段，通过Hash模块、伪随机数生成器模块、时钟模块和Flash模块进行数据流通，实现协议用户端身份验证；在第二认证阶段，通过PUF模块、Hash模块、时钟模块和Hash模块进行身份验证或协商会话密钥。本发明通过精确的数据结果获取和控制数据流转，优化硬件资源使用，确保数据流转的安全性和高效性。
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公开(公告)号：CN117010032B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311283187.6
申请日：2023-10-07
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明涉及一种自动读和清零的SRAM物理不可克隆函数电路及设备。包括逻辑门模块、计数模块、数据选择模块和SRAM存储器。通过设定计数模块的初始值，随着每个时钟上升沿计数模块不断累计，计数模块的输出数据发生改变，从而改变地址端口的值，进而实现SRAM存储器对不同地址的自动化读操作。当经过特定个时钟周期后，SRAM存储器接收到的读写使能信号变为写操作，随着每个时钟上升沿计数模块继续不断累计，同理，实现SRAM存储器对不同地址的自动化清零操作。提高了集成电路整体的安全性。
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公开(公告)号：CN110135158B
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN201910313352.5
申请日：2019-04-18
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明公开一种基于热梯度阵列的无母本硬件木马检测方法，步骤包括：S1.预先将多个不同级数的环形振荡器作为热梯度阵列填充至目标芯片的逻辑空余区；S2.对目标芯片进行检测时，获取目标芯片在热工作模式时的红外图像；S3.根据红外图像获取热梯度阵列的热增量图；S4.判断步骤S3获取到的热增量图与原填充设计时热梯度阵列的标准热增量图相比是否存在缺失或改变，如果是判定有硬件木马植入。本发明具有实现方法简单、成本低、能够实现各种硬件木马植入方式的精确检测，同时使得硬件木马植入难度高等优点。
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公开(公告)号：CN108985058A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810690103.3
申请日：2018-06-28
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明公开一种基于红外图像细节增强的硬件木马检测方法，步骤包括：S1.预先在目标芯片的逻辑空余区中植入环形振荡器模块，并通过配置工作模式将环振热模式芯片正常工作模式进行区分；S2.对目标芯片进行检测时，获取芯片在环振热模式时的红外图像；S3.对获得的红外图像在时间维进行降噪处理；S4.使用图像细节增强方法对降噪处理后的图像在空间维进行细节增强；S5.获取芯片植入环形振荡器模块的配置信息，并与细节增强后的环振热模式红外图进行比较，如果一致或相差结果在指定范围内，则判定没有硬件木马植入。本发明具有实现操作简单、所需成本低、检测精度及效率高等优点。
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公开(公告)号：CN117010032A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202311283187.6
申请日：2023-10-07
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 本发明涉及一种自动读和清零的SRAM物理不可克隆函数电路及设备。包括逻辑门模块、计数模块、数据选择模块和SRAM存储器。通过设定计数模块的初始值，随着每个时钟上升沿计数模块不断累计，计数模块的输出数据发生改变，从而改变地址端口的值，进而实现SRAM存储器对不同地址的自动化读操作。当经过特定个时钟周期后，SRAM存储器接收到的读写使能信号变为写操作，随着每个时钟上升沿计数模块继续不断累计，同理，实现SRAM存储器对不同地址的自动化清零操作。提高了集成电路整体的安全性。
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公开(公告)号：CN108256357B
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201810022018.X
申请日：2018-01-10
申请人： 中国人民解放军国防科技大学
摘要： 一种红外图像与正态分布分析结合的硬件木马检测方法，步骤为：S1：捕获红外图像；让一块没有硬件木马的纯净芯片样本和一块同款型号的被测芯片同时开始工作，用图像采集设备捕获一段时间内它们两个的红外图像；S2：对获得的红外图像进行第一次差分；在采样的一段时间内，每一个采样时刻都有一对红外图像，对两者进行差分，得到一张差分后的红外图像；S3：对每一个时刻的差分红外图像进行第二次差分。把第一次差分获得的差分红外图像中的每一个像素点提取出来，将其差分温度画在以时间为横坐标的坐标图上；S4：判断；有木马的点的差分温度较高；S5：进行正态分布统计分析。本发明具有检测精度高、检测成本低、检测效率高等优点。
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