公开(公告)号：CN114596295B

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202210254627.4

申请日：2022-03-15

Applicant: 中南大学

Inventor： 陈宁 ,  綦彪 ,  谢逸航 ,  陈致蓬 ,  阳春华 ,  桂卫华 ,  王接喜 ,  陈洛文

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G06V10/26

Abstract: 本发明公开了一种锂离子正极材料SEM图迂曲度提取方法及装置，通过获取锂离子正极材料在不同烧结温度下的SEM图像，对SEM图像进行预处理，得到二值图像；对二值图像进行距离变换得到距离变换图，并将变换得到的距离变换图与构建的多尺度的圆形邻域滤波器进行差分卷积，得到卷积结果图；将卷积结果图中的每个像素与预设的全局阈值T进行比较，提取出二次颗粒的前景标记像素；运用形态学闭运算对前景标记像素进行标记，得到前景标记图；利用前景标记图，采用分水岭算法对预处理后的SEM图像进行分割，得到最终的分割结果；利用分割结果，采用蒙特卡罗方法计算二次颗粒的面积和迂曲度。本发明实现二次颗粒的精确分割和对产品性能的预测。

公开(公告)号：CN114596295A

公开(公告)日：2022-06-07

申请号：CN202210254627.4

申请日：2022-03-15

Applicant: 中南大学

Inventor： 陈宁 ,  綦彪 ,  谢逸航 ,  陈致蓬 ,  阳春华 ,  桂卫华 ,  王接喜 ,  陈洛文

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G06V10/26

Abstract: 本发明公开了一种锂离子正极材料SEM图迂曲度提取方法及装置，通过获取锂离子正极材料在不同烧结温度下的SEM图像，对SEM图像进行预处理，得到二值图像；对二值图像进行距离变换得到距离变换图，并将变换得到的距离变换图与构建的多尺度的圆形邻域滤波器进行差分卷积，得到卷积结果图；将卷积结果图中的每个像素与预设的全局阈值T进行比较，提取出二次颗粒的前景标记像素；运用形态学闭运算对前景标记像素进行标记，得到前景标记图；利用前景标记图，采用分水岭算法对预处理后的SEM图像进行分割，得到最终的分割结果；利用分割结果，采用蒙特卡罗方法计算二次颗粒的面积和迂曲度。本发明实现二次颗粒的精确分割和对产品性能的预测。

公开(公告)号：CN116794517A

公开(公告)日：2023-09-22

申请号：CN202310627477.1

申请日：2023-05-30

Applicant: 中南大学

Inventor： 陈宁 ,  谢逸航 ,  阳春华 ,  桂卫华 ,  陈洛文 ,  何玉江 ,  赵旭 ,  周宇

IPC: G01R31/367 ,  G01R31/378 ,  G01R31/388

Abstract: 本发明公开了一种基于分数阶卡尔曼滤波的锂离子电池SOC估计方法及系统，通过建立锂离子电池分数阶等效电路模型；建立关于分数阶等效电路模型参数向量的参数系统；构建变分参数集，设定变分参数的先验分布；对分数阶等效电路模型的状态xk、状态预测误差协方差矩阵#imgabs0#与测量噪声方差#imgabs1#的先验分布的参数、以及参数系统的状态θk进行预测；基于变分贝叶斯理论，更新状态误差协方差矩阵#imgabs2#测量噪声方差#imgabs3#分布的参数、分数阶等效电路模型的状态xk和参数系统的状态θk，并输出更新后的状态向量，从状态向量中取更新后的SOC作为SOC的估计值。本发明能够在模型参数漂移且测量噪声未知时变的条件下准确估计SOC，具有实际应用价值。

公开(公告)号：CN114612445B

公开(公告)日：2025-01-24

申请号：CN202210260987.5

申请日：2022-03-15

Applicant: 中南大学

Inventor： 陈宁 ,  陈洛文 ,  阳春华 ,  桂卫华 ,  陈致蓬 ,  谢逸航 ,  刘红杰 ,  刘洪臻

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/62 ,  G06T5/70

Abstract: 本发明公开一种三元正极材料一次颗粒大小获取方法，通过对一次颗粒SEM图像进行预处理，去除图像噪点和小颗粒干扰；针对一次颗粒边缘方向不确定的特点，采用十二种边缘方向的分数阶梯度算子计算图像梯度，取十二种边缘梯度的最大值，找到图像梯度图中最正确的梯度方向，获得图像梯度图；对计算获得的图像梯度图进行形态学计算，找到一次颗粒的潜在位置，并进行标记，得到前景标记图；将图像梯度图与前景标记图进行结合，获得前景标记梯度图，对前景标记梯度图进行分水岭分割计算，并进行面积阈值处理，得到一次颗粒分割结果，最后对结果进行连通域统计分析，获取一次颗粒大小分布。本发明三元正极材料颗粒分割准确，一次颗粒大小分布获取精准。

公开(公告)号：CN114612445A

公开(公告)日：2022-06-10

申请号：CN202210260987.5

申请日：2022-03-15

Applicant: 中南大学

Inventor： 陈宁 ,  陈洛文 ,  阳春华 ,  桂卫华 ,  陈致蓬 ,  谢逸航 ,  刘红杰 ,  刘洪臻

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/62 ,  G06T5/00

Abstract: 本发明公开一种三元正极材料一次颗粒大小获取方法，通过对一次颗粒SEM图像进行预处理，去除图像噪点和小颗粒干扰；针对一次颗粒边缘方向不确定的特点，采用十二种边缘方向的分数阶梯度算子计算图像梯度，取十二种边缘梯度的最大值，找到图像梯度图中最正确的梯度方向，获得图像梯度图；对计算获得的图像梯度图进行形态学计算，找到一次颗粒的潜在位置，并进行标记，得到前景标记图；将图像梯度图与前景标记图进行结合，获得前景标记梯度图，对前景标记梯度图进行分水岭分割计算，并进行面积阈值处理，得到一次颗粒分割结果，最后对结果进行连通域统计分析，获取一次颗粒大小分布。本发明三元正极材料颗粒分割准确，一次颗粒大小分布获取精准。