公开(公告)号：CN118914370A

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202410963896.7

申请日：2024-07-18

Applicant: 中南大学 ,  湖南省工业设备安装有限公司

Inventor： 马丽君 ,  吴俊岑 ,  李雄兵 ,  戴志彬 ,  郭小强 ,  禹利达 ,  周士建

IPC: G01N29/24 ,  G01N29/07 ,  G01N29/44 ,  G06F17/18 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明提出了一种基于非线性波束成形的超声相控阵横波稀疏成像方法，涉及超声无损检测技术领域，包括：S1、根据超声相控阵探头参数及楔块参数，计算超声相控阵阵元坐标；S2、在超声相控阵N个阵元中随机选择M个有效阵元，将目标区域离散网格化，计算每个有效阵元对每个网格的声场辐射能量，然后将所述声场辐射能量叠加计算合成声场辐射能量，并根据所述合成声场辐射能量计算平均值，取平均值最大的稀疏阵列分布作为超声稀疏阵列分布；S3、采集检测对象的超声稀疏阵列全矩阵信号，对目标区域进行非线性波数成形处理进行可视化重建。本方法基于非线性波束成形算法进行横波成像，既保证高质量成像，又极大地缩减了计算时间，提高了成像效率。

公开(公告)号：CN114187291B

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202210131398.7

申请日：2022-02-14

Applicant: 中南大学

Inventor： 李雄兵 ,  禹利达 ,  李海宁 ,  宋永锋 ,  杨占锋

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/12 ,  G06T7/13 ,  G06T7/136 ,  G06T5/10 ,  G06T5/30 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明提供了一种基于滤波延迟乘累加(F‑DMAS)和CMYK伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法，并引入了自动彩色图像分割技术来检测强衰减材料中的缺陷。首先，采用F‑DMAS算法对全矩阵捕捉(FMC)数据进行后处理。然后，分析了频率成分的选择对F‑DMAS成像的影响，讨论了衰减对缺陷回波的影响。接着，利用伪彩色技术对信号的频率分量进行分离，生成具有频率和强度信息的彩色图像，以提高超声图像的信息量和缺陷的表达效果。最后，对伪彩色成像结果进行彩色图像分割和边缘检测，实现缺陷轮廓的自动提取。与线性全聚焦成像方法相比，本发明的方法在缺陷的信噪比，检测能力和表达效果等方面具有显著优势。

公开(公告)号：CN114187291A

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN202210131398.7

申请日：2022-02-14

Applicant: 中南大学

Inventor： 李雄兵 ,  禹利达 ,  李海宁 ,  宋永锋 ,  杨占锋

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/12 ,  G06T7/13 ,  G06T7/136 ,  G06T5/10 ,  G06T5/30 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明提供了一种基于滤波延迟乘累加(F‑DMAS)和CMYK伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法，并引入了自动彩色图像分割技术来检测强衰减材料中的缺陷。首先，采用F‑DMAS算法对全矩阵捕捉(FMC)数据进行后处理。然后，分析了频率成分的选择对F‑DMAS成像的影响，讨论了衰减对缺陷回波的影响。接着，利用伪彩色技术对信号的频率分量进行分离，生成具有频率和强度信息的彩色图像，以提高超声图像的信息量和缺陷的表达效果。最后，对伪彩色成像结果进行彩色图像分割和边缘检测，实现缺陷轮廓的自动提取。与线性全聚焦成像方法相比，本发明的方法在缺陷的信噪比，检测能力和表达效果等方面具有显著优势。