公开(公告)号：CN112994786B

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN201911273288.9

申请日：2019-12-12

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 刘文海 ,  陈刚 ,  涂明强 ,  张璋 ,  胡小念

IPC: H04B10/079

Abstract: 本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。

公开(公告)号：CN112994786A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN201911273288.9

申请日：2019-12-12

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 刘文海 ,  陈刚 ,  涂明强 ,  张璋 ,  胡小念

IPC: H04B10/079

Abstract: 本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。