公开(公告)号：CN112994786A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN201911273288.9

申请日：2019-12-12

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 刘文海 ,  陈刚 ,  涂明强 ,  张璋 ,  胡小念

IPC: H04B10/079

Abstract: 本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。

公开(公告)号：CN112994786B

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN201911273288.9

申请日：2019-12-12

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 刘文海 ,  陈刚 ,  涂明强 ,  张璋 ,  胡小念

IPC: H04B10/079

Abstract: 本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括：根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率；根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量；根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量；根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。

公开(公告)号：CN101552704A

公开(公告)日：2009-10-07

申请号：CN200910137540.3

申请日：2009-05-05

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 杨文伟 ,  张璋 ,  李久常 ,  牛锐

IPC: H04L12/26 ,  H04L12/10

Abstract: 本发明公开了一种对具有供电功能的网络设备进行测试的方法和装置，以解决无法对这种网络设备的性能指标的定量测试的问题。通过实施例阐述了如下方法：接收具有供电功能的网络设备传输的信号，根据所述网络设备采用的供电信号接入方式，从接收的信号中分离出供电信号，测量分离出的供电信号的电压和/或电流；另外针对所述网络设备发出的受电设备探测信号和功率分级探测信号，给出各种应答信号。根据实施例的技术方案，由于对PSE设备输出的信号中分离出供电信号并进行电压、电流的测量，以及对所述网络设备的探测能够给出多种应答信号，因此相比现有的测试方式方案而言，能够更准确、全面地测试PSE设备的POE功能。