一种开关触点使用次数指示装置和开关触点元件

    公开(公告)号:CN111370235A

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201811602905.0

    申请日:2018-12-26

    Abstract: 本申请涉及一种开关触点使用次数指示装置和开关触点元件,其中,该开关触点使用次数指示装置,包括:传动部件,与被测开关触点相连,用于在所述被测开关触点动作的时候,生成传动信号;流体泵出部件,与所述传动部件相连,用于接收所述传动信号,并在接收到所述传动信号的情况,泵出预定体积量的流体;指示部件,与所述流体泵出部件相连,用于根据所述流体泵出单元所泵出的流体累积量指示所述被测开关触点的使用次数。通过上述方式解决了现有的开关触点使用次数确定方式过于复杂导致成本过高的问题,达到了低成本实时监测开关触点寿命的技术效果。

    数据线测试方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101140539A

    公开(公告)日:2008-03-12

    申请号:CN200710079516.X

    申请日:2007-02-16

    Abstract: 本发明提供了一种数据线测试方法,其包括以下步骤:步骤S102,从被测器件的地址空间中任意选择不同的四个地址,同时产生不同的两个测试数据;步骤S104,分别将两个测试数据中的第一数据和第二数据写入四个地址中的第一地址和第二地址中;步骤S106,读出第一地址中的数据并存储为第一读取数据,以及读出第二地址中的数据并存储为第二读取数据;步骤S108,判断第一读取数据是否与第一数据相同,以及第二读取数据是否与第二数据相同;以及步骤S110,根据判断结果,执行相应的操作。本发明测试逻辑简单,测试效率高,适用于各种类型的RAM和RAM、以及带有总线接口的各类功能器件和FPGA等。

    通用串行通讯接口调试装置及方法

    公开(公告)号:CN1570877A

    公开(公告)日:2005-01-26

    申请号:CN200410037316.4

    申请日:2004-04-27

    Abstract: 一种通用串行通讯接口调试装置,包括计算机模块(101)、微控制器小系统(102)、第一通讯模块(105)、第二通讯模块(106)、…第N通讯模块(107)、可编程逻辑模块(103)、时钟模块(104);计算机模块(101)完成人机接口界面,通过RS232接口与微控制器小系统(102)模块进行通讯,完成配置命令的下发或数据的收发;微控制器小系统(102)完成对各个通讯模块的控制和接续;可编程逻辑模块(103)完成整个系统的片选和地址译码等功能;时钟模块(104)使本装置时钟和外部时钟同步。本发明使常用串行通讯的调试变得程序化和模块化,方便电子信息和工业控制系统开发中各种串行接口的调试和测试。

    一种开关触点使用次数指示装置和开关触点元件

    公开(公告)号:CN111370235B

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN201811602905.0

    申请日:2018-12-26

    Abstract: 本申请涉及一种开关触点使用次数指示装置和开关触点元件,其中,该开关触点使用次数指示装置,包括:传动部件,与被测开关触点相连,用于在所述被测开关触点动作的时候,生成传动信号;流体泵出部件,与所述传动部件相连,用于接收所述传动信号,并在接收到所述传动信号的情况,泵出预定体积量的流体;指示部件,与所述流体泵出部件相连,用于根据所述流体泵出单元所泵出的流体累积量指示所述被测开关触点的使用次数。通过上述方式解决了现有的开关触点使用次数确定方式过于复杂导致成本过高的问题,达到了低成本实时监测开关触点寿命的技术效果。

    体积测量方法和装置、计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN116228841A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202111470266.9

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明提供一种体积测量方法、体积测量装置、电子设备和计算机可读存储介质。本发明实施例通过获取待测目标的原始点云,对原始点云进行分割,得到包括待测目标的第一目标点云和第一参考平面点云,拟合第一参考平面点云得到第一目标参考平面,根据第一目标参考平面,得到第一目标点云中每个点相对于所述待测目标的背景平面的相对高度,进而得到待测目标的体素数,根据预先标定的体素当量和待测目标的体素数,得到待测目标的体积。本发明实施例通过预先标定的体素当量和待测目标的体素数,能够在立体不规则的情况下精确测量物体体积。

    数据线测试方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100517254C

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200710079516.X

    申请日:2007-02-16

    Abstract: 本发明提供了一种数据线测试方法,其包括以下步骤:步骤S102,从被测器件的地址空间中任意选择不同的四个地址,同时产生不同的两个测试数据;步骤S104,分别将两个测试数据中的第一数据和第二数据写入四个地址中的第一地址和第二地址中;步骤S106,读出第一地址中的数据并存储为第一读取数据,以及读出第二地址中的数据并存储为第二读取数据;步骤S108,判断第一读取数据是否与第一数据相同,以及第二读取数据是否与第二数据相同;以及步骤S110,根据判断结果,执行相应的操作。本发明测试逻辑简单,测试效率高,适用于各种类型的RAM和RAM、以及带有总线接口的各类功能器件和FPGA等。

    一种低电压差分信号交叉接续测试接口装置

    公开(公告)号:CN100406904C

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200410080207.0

    申请日:2004-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种低电压差分信号交叉接续测试接口装置,包括控制接口单元,MCU单元,跳线设置单元,互锁控制单元和交叉矩阵单元;控制接口单元用于与外部控制台之间的通讯连接;跳线设置单元用于选定本装置的运行方式是程控配置或是手动配置,并将运行方式信息输送给MCU单元和互锁控制单元:互锁控制单元用于选通一种配置方式通过该单元输出到交叉矩阵单元,同时将另一种配置方式封锁住;MCU单元接收控制接口单元传送过来的指令,将指令翻译成对应的低电压差分信号接续关系,程控地将MCU相应的IO口管脚设置成需要的电平,通过互锁控制单元去控制交叉矩阵单元;交叉矩阵单元用于实现低电压差分信号的交叉接续。本发明提出的装置能够实现两个单板或者小系统的LVDS电平信号到LVDS电平信号之间的交叉接续,结构简单,成本低,能够方便地应用于自动化测试系统。

    一种低电压差分信号交叉接续测试接口装置

    公开(公告)号:CN1755383A

    公开(公告)日:2006-04-05

    申请号:CN200410080207.0

    申请日:2004-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种低电压差分信号交叉接续测试接口装置,包括控制接口单元,MCU单元,跳线设置单元,互锁控制单元和交叉矩阵单元;控制接口单元用于与外部控制台之间的通讯连接;跳线设置单元用于选定本装置的运行方式是程控配置或是手动配置,并将运行方式信息输送给MCU单元和互锁控制单元;互锁控制单元用于选通一种配置方式通过该单元输出到交叉矩阵单元,同时将另一种配置方式封锁住;MCU单元接收控制接口单元传送过来的指令,将指令翻译成对应的低电压差分信号接续关系,程控地将MCU相应的IO口管脚设置成需要的电平,通过互锁控制单元去控制交叉矩阵单元;交叉矩阵单元用于实现低电压差分信号的交叉接续。本发明提出的装置能够实现两个单板或者小系统的LVDS电平信号到LVDS电平信号之间的交叉接续,结构简单,成本低,能够方便地应用于自动化测试系统。

    一种固定支撑装置及仪表检测系统

    公开(公告)号:CN206018203U

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201620912302.0

    申请日:2016-08-19

    Abstract: 本实用新型公开了一种固定支撑装置及仪表检测系统,其中,所述固定支撑装置包括三部分:支撑基座、挠性连接件、仪表固定板,其中挠性连接件的一端与支撑基座配合连接,另一端和仪表固定板配合连接。本实用新型提供的固定支撑装置利用挠性连接件可以弹性形变并保持形态稳定的特点,通过调整绕性连接件位置及角度,从而将检测仪表快速调整到需要的位置和方向并保持固定,操作方便,且该装置加工成本低,效率高。

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