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公开(公告)号:CN118919597A
公开(公告)日:2024-11-08
申请号:CN202410887646.X
申请日:2024-07-03
申请人: 东莞理工学院
IPC分类号: H01L31/109 , H01L31/18 , C23C14/08 , C23C14/35 , C23C14/58
摘要: 本发明公开了一种紫外光电探测器及其制备方法和应用,上述紫外光电探测器包括:衬底,位于衬底的一侧的GaN层;位于GaN层背离衬底的一侧的Ga2O3层,其中,Ga2O3层是采用磁控溅射法沉积后于真空条件下进行热处理制得的。上述紫外光电探测器对紫外光响应特性好,且生产工艺简单,生产成本低。本发明还提供上述紫外光电探测器的制备方法和应用。
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公开(公告)号:CN118738194A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202410738264.0
申请日:2024-06-07
IPC分类号: H01L31/108 , H01L31/0224 , H01L31/18
摘要: 本发明公开了一种GaN基MSM型紫外探测器及其制备方法和应用,属于半导体光电探测器技术领域。本发明提供的GaN基MSM型紫外探测器,包括叠加设置的衬底、缓冲单元、GaN活性层和叉指电极;所述叉指电极的材质为Mo。本发明提供的GaN基MSM型紫外探测器,能够有效提高光生电流强度,进而提升光电性能。本发明还提供了上述GaN基MSM型紫外探测器的制备方法和应用。
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公开(公告)号:CN118748222A
公开(公告)日:2024-10-08
申请号:CN202410738274.4
申请日:2024-06-07
IPC分类号: H01L31/18 , H01L31/101
摘要: 本发明公开了一种Si基GaN紫外探测器的制备方法及其应用,属于半导体光电器件技术领域。本发明提供的制备方法包括以下步骤:S1.依次在Si基衬底表面设置AlN缓冲层和AlGaN缓冲层;S2.在所述AlGaN缓冲层表面设置GaN层,并于1000~1100℃真空退火;S3.在所述GaN层表面设置电极。本发明提供的制备方法,能够有效提高Si基GaN紫外探测器的光电流和响应度。本发明还提供了上述制备方法的应用。
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