公开(公告)号：CN103067008B

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201210559873.7

申请日：2012-12-21

Applicant: 东南大学

Inventor： 黄成 ,  刘昊 ,  王薇 ,  李佑辉 ,  杨腾 ,  李琪琼

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC线性度的测试方法，其只需采用以低线性度信号源以及一偏置电压源即可实现，测试成本低。测试过程中，低线性度信号源产生两个低线性度的信号作为待测高精度ADC的输入信号，两输入信号之间相隔一个固定偏置电压，这一固定偏置电压由偏置电压源提供，得到高精度ADC在两输入信号下的输出结果后，再结合两输入信号下的方程即可计算出待测高精度ADC的非线性即线性度，这也在一定程度上降低了测试难度。

公开(公告)号：CN103067008A

公开(公告)日：2013-04-24

申请号：CN201210559873.7

申请日：2012-12-21

Applicant: 东南大学

Inventor： 黄成 ,  刘昊 ,  王薇 ,  李佑辉 ,  杨腾 ,  李琪琼

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC线性度的测试方法，其只需采用以低线性度信号源以及一偏置电压源即可实现，测试成本低。测试过程中，低线性度信号源产生两个低线性度的信号作为待测高精度ADC的输入信号，两输入信号之间相隔一个固定偏置电压，这一固定偏置电压由偏置电压源提供，得到高精度ADC在两输入信号下的输出结果后，再结合两输入信号下的方程即可计算出待测高精度ADC的非线性即线性度，这也在一定程度上降低了测试难度。