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公开(公告)号：CN103529379A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310278150.4
申请日：2013-07-04
Applicant: 东南大学
IPC: G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其通过对于同一分辨率的信号源，分析增加或减少采样点数对测试结果精确度的影响，并在此基础上建立采样点数同测试结果之间的关系模型，以及信号源的分辨率同测试结果精确度之间的关系。基于得到的关系模型，可以确定在给定测试对象和测试目的，进而实现在对高精度ADC进行快速测试、精确测试以及快速精确的低成本测试等目的时最佳信号源的选择，在保证测试结果的同时降低测试成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103529379B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310278150.4
申请日：2013-07-04
Applicant: 东南大学
IPC: G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其通过对于同一分辨率的信号源，分析增加或减少采样点数对测试结果精确度的影响，并在此基础上建立采样点数同测试结果之间的关系模型，以及信号源的分辨率同测试结果精确度之间的关系。基于得到的关系模型，可以确定在给定测试对象和测试目的，进而实现在对高精度ADC进行快速测试、精确测试以及快速精确的低成本测试等目的时最佳信号源的选择，在保证测试结果的同时降低测试成本。
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公开(公告)号：CN103475369A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310279152.5
申请日：2013-07-04
Applicant: 东南大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法。本测试方法通过选取分辨率高于待测ADC3比特以上的ADC作为初次测试对象，任意选取一种合适的高精度ADC测试算法对采集的初测ADC的输出码进行处理，并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式，然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的激励非线性表达式测试待测的具有较低分辨率的待测ADC。该方法避免了传统直方图和相关高精度ADC测试方法中需要重复采样和信号源表达式估计等问题。此外，由于降低了所需的测试时间和硬件成本，本方法在高精度ADC测试领域具有更好的可行性。
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公开(公告)号：CN103067008B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201210559873.7
申请日：2012-12-21
Applicant: 东南大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC线性度的测试方法，其只需采用以低线性度信号源以及一偏置电压源即可实现，测试成本低。测试过程中，低线性度信号源产生两个低线性度的信号作为待测高精度ADC的输入信号，两输入信号之间相隔一个固定偏置电压，这一固定偏置电压由偏置电压源提供，得到高精度ADC在两输入信号下的输出结果后，再结合两输入信号下的方程即可计算出待测高精度ADC的非线性即线性度，这也在一定程度上降低了测试难度。
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公开(公告)号：CN103475369B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201310279152.5
申请日：2013-07-04
Applicant: 东南大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法。本测试方法通过选取分辨率高于待测ADC 3比特以上的ADC作为初次测试对象，任意选取一种合适的高精度ADC测试算法对采集的初测ADC的输出码进行处理，并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式，然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的激励非线性表达式测试待测的具有较低分辨率的待测ADC。该方法避免了传统直方图和相关高精度ADC测试方法中需要重复采样和信号源表达式估计等问题。此外，由于降低了所需的测试时间和硬件成本，本方法在高精度ADC测试领域具有更好的可行性。
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公开(公告)号：CN103067008A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210559873.7
申请日：2012-12-21
Applicant: 东南大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种高精度ADC线性度的测试方法，其只需采用以低线性度信号源以及一偏置电压源即可实现，测试成本低。测试过程中，低线性度信号源产生两个低线性度的信号作为待测高精度ADC的输入信号，两输入信号之间相隔一个固定偏置电压，这一固定偏置电压由偏置电压源提供，得到高精度ADC在两输入信号下的输出结果后，再结合两输入信号下的方程即可计算出待测高精度ADC的非线性即线性度，这也在一定程度上降低了测试难度。
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