一种快速QFN芯片塑封图像获取与放大方法

    公开(公告)号:CN106780437A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611039941.1

    申请日:2016-11-11

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 巢渊 张志胜 戴敏

    Abstract: 本发明公开了一种快速QFN芯片塑封图像获取与放大方法,包括以下步骤:(1)对视觉检测系统采集到的多幅QFN塑封图像进行预处理;(2)对多幅塑封图像预处理结果进行连通区域标记与判定,从符合条件的连通区域中提取单幅QFN塑封图像;(3)对提取到的单幅塑封图像进行预处理;(4)对单幅塑封图像预处理结果进行旋转校正;(5)对单幅塑封图像旋转校正结果进行快速图像放大;(6)若当前还有未提取的符合条件的连通区域,进入步骤(2),否则当前多幅QFN塑封图像处理结束,进入下一多幅QFN塑封图像的处理。本发明为高精度的QFN芯片表面缺陷在线检测提供了技术基础。

    一种快速QFN芯片塑封图像获取与放大方法

    公开(公告)号:CN106780437B

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201611039941.1

    申请日:2016-11-11

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 巢渊 张志胜 戴敏

    Abstract: 本发明公开了一种快速QFN芯片塑封图像获取与放大方法,包括以下步骤:(1)对视觉检测系统采集到的多幅QFN塑封图像进行预处理;(2)对多幅塑封图像预处理结果进行连通区域标记与判定,从符合条件的连通区域中提取单幅QFN塑封图像;(3)对提取到的单幅塑封图像进行预处理;(4)对单幅塑封图像预处理结果进行旋转校正;(5)对单幅塑封图像旋转校正结果进行快速图像放大;(6)若当前还有未提取的符合条件的连通区域,进入步骤(2),否则当前多幅QFN塑封图像处理结束,进入下一多幅QFN塑封图像的处理。本发明为高精度的QFN芯片表面缺陷在线检测提供了技术基础。

    一种复杂图像多阈值分割方法

    公开(公告)号:CN104331893B

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201410649123.8

    申请日:2014-11-14

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 张志胜 巢渊 戴敏

    Abstract: 本发明提供了一种复杂图像多阈值分割方法,基于改进粒子群优化与引力搜索混合算法,包括初始化粒子群优化与引力搜索混合算法各项参数,随机生成所有粒子的初始位置;依据随机数决定生成反向种群来计算适应度值或计算当前种群的适应度值;对全局最优粒子变异,从变异前后两者中取适应度值较大的作为新的全局最优粒子;通过迭代输出全局最优粒子位置作为图像分割阈值等步骤。本发明为复杂图像多阈值分割的提供了一种全新的方法,实现了高精度、高稳定性的多阈值分割。

    一种复杂图像多阈值分割方法

    公开(公告)号:CN104331893A

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201410649123.8

    申请日:2014-11-14

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 张志胜 巢渊 戴敏

    CPC classification number: G06N3/006 G06T7/11

    Abstract: 本发明提供了一种复杂图像多阈值分割方法,基于改进粒子群优化与引力搜索混合算法,包括初始化粒子群优化与引力搜索混合算法各项参数,随机生成所有粒子的初始位置;依据随机数决定生成反向种群来计算适应度值或计算当前种群的适应度值;对全局最优粒子变异,从变异前后两者中取适应度值较大的作为新的全局最优粒子;通过迭代输出全局最优粒子位置作为图像分割阈值等步骤。本发明为复杂图像多阈值分割的提供了一种全新的方法,实现了高精度、高稳定性的多阈值分割。

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