一种用于透射电镜原位表征的CVD芯片及其使用方法

    公开(公告)号:CN111272781A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN202010092287.0

    申请日:2020-02-14

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开一种用于透射电镜原位表征的CVD芯片,该CVD芯片包含底板芯片与盖板芯片。底板芯片包含硅片基底,沉积在硅片基底上的绝缘层薄膜,沉积在绝缘层薄膜上的低温区电极与高温区电极,沉积在电极表面的隔离层薄膜,刻蚀在低温区和高温区的两个观察窗口,刻蚀在硅片基底中的镂空区;盖板芯片包括硅片基底,沉积在硅片基底上的支撑薄膜,刻蚀在支撑薄膜中的观察区,刻蚀在硅片基底中的镂空区,镂空区覆盖观察区。把用于CVD生长的源材料置于高温区,把催化剂材料置于低温区,然后在隔离层薄膜外周区域粘上金属粘合剂,令支撑薄膜面向金属粘合剂,使盖板芯片和底板芯片对粘密封形成CVD芯片,装入匹配的透射电镜样品杆中观测使用。

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