等离子体处理装置和等离子体处理方法

    公开(公告)号:CN112788826B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202011154008.5

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 本发明提供与多个天线的配置无关地、能够自由地进行等离子体分布控制的等离子体处理装置和等离子体处理方法。等离子体处理装置包括:腔室,其具有对基片实施等离子体处理的处理空间和合成电磁波的合成空间;分隔处理空间和合成空间的电介质窗;天线单元,其具有对合成空间辐射电磁波的多个天线,并作为相控阵天线发挥作用;对天线单元输出电磁波的电磁波输出部;以及使天线单元作为相控阵天线发挥作用的控制部,天线是螺旋形天线。

    等离子体探测装置和等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN109427523B

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN201811030301.3

    申请日:2018-09-05

    Abstract: 本发明提供一种等离子体探测装置,其包括:天线部,其隔着将真空空间与大气空间之间密封的密封部件安装于开口部中,其中,上述开口部形成在处理容器的壁部或载置台;与上述天线部连接的电极;和由电介质形成的对上述天线部从周围进行支承的电介质支承部,上述天线部与上述壁部或上述载置台的相对面以规定的距离隔开间隔,上述天线部的从上述开口部露出的面,与形成有该开口部的上述壁部或上述载置台的等离子体生成空间侧的面相比凹入到内侧。由此,能够提供避免气体侵入的等离子体探测装置。

    等离子体处理方法和等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN113615322A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202080024028.2

    申请日:2020-03-23

    Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置中的等离子体处理方法,所述等离子体处理装置包括腔室、用于在所述腔室内载置基片的载置台、用于辐射多个电磁波的多个辐射部、和配置在多个所述辐射部与所述载置台之间的电介质窗,所述等离子体处理方法的特征在于,包括:在所述载置台上准备基片的工序;控制从多个所述辐射部辐射的多个所述电磁波中的至少任一个电磁波的相位的工序;从多个所述辐射部向所述腔室内辐射多个所述电磁波的工序;和利用从被供给到所述电介质窗与所述载置台之间的气体生成的局部等离子体对所述基片进行处理的工序。

    等离子体处理方法和等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN113615322B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202080024028.2

    申请日:2020-03-23

    Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置中的等离子体处理方法,所述等离子体处理装置包括腔室、用于在所述腔室内载置基片的载置台、用于辐射多个电磁波的多个辐射部、和配置在多个所述辐射部与所述载置台之间的电介质窗,所述等离子体处理方法的特征在于,包括:在所述载置台上准备基片的工序;控制从多个所述辐射部辐射的多个所述电磁波中的至少任一个电磁波的相位的工序;从多个所述辐射部向所述腔室内辐射多个所述电磁波的工序;和利用从被供给到所述电介质窗与所述载置台之间的气体生成的局部等离子体对所述基片进行处理的工序。

    等离子体处理装置和等离子体处理方法

    公开(公告)号:CN112788826A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202011154008.5

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 本发明提供与多个天线的配置无关地、能够自由地进行等离子体分布控制的等离子体处理装置和等离子体处理方法。等离子体处理装置包括:腔室,其具有对基片实施等离子体处理的处理空间和合成电磁波的合成空间;分隔处理空间和合成空间的电介质窗;天线单元,其具有对合成空间辐射电磁波的多个天线,并作为相控阵天线发挥作用;对天线单元输出电磁波的电磁波输出部;以及使天线单元作为相控阵天线发挥作用的控制部,天线是螺旋形天线。

    等离子体探测装置、等离子体处理装置和控制方法

    公开(公告)号:CN112449473A

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN202010861394.5

    申请日:2020-08-25

    Abstract: 本发明提供一种等离子体探测装置、等离子体处理装置和控制方法。本发明的一方式的等离子体探测装置包括:天线部,其隔着将真空空间与大气空间之间密封的密封部件,安装在形成于处理容器的壁的开口部;和透光部,其设置于所述天线部的内部或者是所述天线部的至少一部分,能够使所述真空空间中生成的等离子体的发出光透射到所述大气空间。根据本发明,能够高精度地监视等离子体生成空间中的自由基密度。

    等离子体探测装置和等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN109427523A

    公开(公告)日:2019-03-05

    申请号:CN201811030301.3

    申请日:2018-09-05

    Abstract: 本发明提供一种等离子体探测装置,其包括:天线部,其隔着将真空空间与大气空间之间密封的密封部件安装于开口部中,其中,上述开口部形成在处理容器的壁部或载置台;与上述天线部连接的电极;和由电介质形成的对上述天线部从周围进行支承的电介质支承部,上述天线部与上述壁部或上述载置台的相对面以规定的距离隔开间隔,上述天线部的从上述开口部露出的面,与形成有该开口部的上述壁部或上述载置台的等离子体生成空间侧的面相比凹入到内侧。由此,能够提供避免气体侵入的等离子体探测装置。

    等离子体处理装置和控制方法

    公开(公告)号:CN112447481B

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202010861892.X

    申请日:2020-08-25

    Abstract: 本发明提供能够监视在实施等离子体处理的期间沉积于等离子体生成空间的膜的膜厚的技术。本发明的一方式的等离子体处理装置包括:处理容器;配置于上述处理容器的内部的与高频电源连接的第1电极;与上述第1电极相对地配置在上述处理容器的内部的接地的第2电极;以及与上述第1电极和上述第2电极的至少一个电极连接的膜厚计算部,其计算沉积于上述至少一个电极的膜的膜厚。

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