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公开(公告)号:CN115917273A
公开(公告)日:2023-04-04
申请号:CN202180040773.0
申请日:2021-06-15
申请人: 世美特株式会社 , 独立行政法人国立高等专门学校机构 , 国立大学法人弘前大学
摘要: 本发明提供一种温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法,能够以高精度、高准确性以及高速响应性来测量被测定体的温度,并且可将测定用薄膜感温元件的温度保持为比被测定体的温度低的关系。温度测定装置(10)包括:感温部(41),探测温度;测定用薄膜感温元件(1),通过使所述感温部(41)接触至被测定体,从而可测定温度;保护加热用薄膜感温元件(2),与所述测定用薄膜感温元件(1)隔着隔热层(S1)可进行热交换地配置,且受到控制,以使温度变得与所述测定用薄膜感温元件(1)相等;温度控制元件(3),可将所述测定用薄膜感温元件(1)设为比所述被测定体的温度低固定温度的温度状态;以及控制处理部(5),控制所述测定用薄膜感温元件(1)、所述保护加热用薄膜感温元件(2)以及所述温度控制元件(3)。
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公开(公告)号:CN116670473A
公开(公告)日:2023-08-29
申请号:CN202280008366.6
申请日:2022-01-12
申请人: 世美特株式会社 , 独立行政法人国立高等专门学校机构 , 国立大学法人弘前大学
IPC分类号: G01K7/42
摘要: 本发明提供一种能够实现高速响应性且可在短时间内以高精度及高准确性对被测定体的温度进行测量的温度测定装置、体温计、温度测定方法及温度衰减测定方法。本发明包括:感温部(41),感知温度;测定用温度传感器(1),设置于通过使感温部(41)接触至被测定体而能够测定温度的感温部(41);温度检测部件,从使感温部(41)接触至被测定体时起,对温度传感器(1)探测出与温度传感器(1)的初始温度的差异的时间及此时的温度传感器(1)的测量温度进行检测,并根据探测出差异的时间,对一定时间后的时间及此时的温度传感器(1)的测量温度进行检测;推测部件,根据探测出差异的时间及一定时间后的时间、当时的测量温度推测感温部(41)接触至被测定体的时间;以及导热分析部件,基于温度检测部件及推测部件的输出信息来推测测量温度。
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