公开(公告)号：CN102266854A

公开(公告)日：2011-12-07

申请号：CN201110124757.8

申请日：2011-05-13

Applicant: 上海高晶金属探测设备有限公司

Inventor： 陆志文 ,  姜鑫东 ,  彭宁嵩 ,  吴家荣

IPC: B07C5/00

Abstract: 本发明提供一种基于FPGA的异物排斥控制系统及其控制方法，所述控制系统包括：异物检测信号发出装置、FPGA芯片和排斥装置；所述FPGA芯片包括：信号接收单元，用于接收所述异物检测信号发出装置发出的异物排斥信号；计时单元，用于在所述信号接收单元接收到任一异物排斥信号后，针对任一个所述异物排斥信号开始延迟计时并设立延迟时间T1；信号触发单元，在所述计时单元针对任一个所述异物排斥信号的延时时间T1计时结束后产生异物排斥控制信号至所述排斥装置以进行排斥作业，得以将检测为具有异物的产品排斥出生产线。相较于现有技术，上述异物排斥技术具有延时计时精确、实时性的优点，可以同时实现连续快速且精确地排斥，并可确保生产进度不受影响。

公开(公告)号：CN102253064A

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN201110078148.3

申请日：2011-03-30

Applicant: 上海高晶金属探测设备有限公司

Inventor： 陆志文 ,  彭宁嵩 ,  吴家荣 ,  姜鑫东

IPC: G01N23/18 ,  G01N23/087 ,  G01V5/00

Abstract: 一种应用于异物检测的X射线检测装置，包括：输送线，用于输送被检物品；双光源X射线扫描设备，用于生成对被检物品进行扫描的两条X射线，所述两条X射线之间成一射线夹角；信息处理设备，与所述双光源X射线扫描设备连接，用于对所述双光源X射线扫描设备扫描得到的信息进行处理以形成图像的信息处理设备。本发明基于双光源的X射线检测装置，可以生成双X射线光源，以两个方向对被检物品进行投影，形成具有互补的两个X射线检测图像，从而解决了单光源检测装置固有的盲区问题，提高异物检测的正确率。