公开(公告)号：CN110836635B

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN201910944964.4

申请日：2019-09-30

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 王正华 ,  黄剑 ,  顾华洋 ,  尤智伟 ,  刘明芳 ,  陈登海

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及一种轻质蜂窝夹层盒型结构精度基准的建立及测量方法，通过基准的转换、基准面建立、工艺基准及测量平台的建立等方法，确保结构平台上电子仪器的装配精度。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量平台研制，可满足易变形结构平台的精密电子仪器装配，满足舱体机械坐标系精度需求。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、研制的测量平台可以保证该轻质蜂窝夹层盒型结构在空载状态、满载状态、与其它舱体连接、吊装、转运后等过程，测量基准稳定、无变形，满足在各种状态下测量精度。

公开(公告)号：CN111948647A

公开(公告)日：2020-11-17

申请号：CN202010662012.6

申请日：2020-07-10

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 施祥玲 ,  徐小明 ,  皮刚 ,  尤智伟 ,  徐培利 ,  栾浩 ,  余爱武 ,  吕峰

IPC: G01S13/89 ,  G01S13/95 ,  G01S7/02 ,  H01Q1/12

Abstract: 一种微波成像仪结构机构动态精度装调工艺，包括组件精度调整与保证—装配过程控制—总装后位姿调节的装配步骤。利用经纬仪测量系统，通过工艺杆提高天线的安装精度，使用驱动机构工装实现组件的动态精度调整；利用激光跟踪仪，对各部组件安装接口精度进行测量，并调整天线展开机构安装平面的平面度；成像仪结构机构总装集成后，根据经纬仪测量系统，对天线展开机构进行位姿调整，最终保证微波成像仪结构机构动态精度的要求。本发明通过减小天线展开机构复材杆件之间的装配应力、组件状态下考虑整机动态精度，增加总装过程中天线展开机构调整环节，解决了微波成像仪结构机构高动态精度难以调整的技术难题。

公开(公告)号：CN110836635A

公开(公告)日：2020-02-25

申请号：CN201910944964.4

申请日：2019-09-30

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 王正华 ,  黄剑 ,  顾华洋 ,  尤智伟 ,  刘明芳 ,  陈登海

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及一种轻质蜂窝夹层盒型结构精度基准的建立及测量方法，通过基准的转换、基准面建立、工艺基准及测量平台的建立等方法，确保结构平台上电子仪器的装配精度。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量平台研制，可满足易变形结构平台的精密电子仪器装配，满足舱体机械坐标系精度需求。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、研制的测量平台可以保证该轻质蜂窝夹层盒型结构在空载状态、满载状态、与其它舱体连接、吊装、转运后等过程，测量基准稳定、无变形，满足在各种状态下测量精度。

公开(公告)号：CN111948647B

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN202010662012.6

申请日：2020-07-10

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 施祥玲 ,  徐小明 ,  皮刚 ,  尤智伟 ,  徐培利 ,  栾浩 ,  余爱武 ,  吕峰

IPC: G01S13/89 ,  G01S13/95 ,  G01S7/02 ,  H01Q1/12

Abstract: 一种微波成像仪结构机构动态精度装调工艺，包括组件精度调整与保证—装配过程控制—总装后位姿调节的装配步骤。利用经纬仪测量系统，通过工艺杆提高天线的安装精度，使用驱动机构工装实现组件的动态精度调整；利用激光跟踪仪，对各部组件安装接口精度进行测量，并调整天线展开机构安装平面的平面度；成像仪结构机构总装集成后，根据经纬仪测量系统，对天线展开机构进行位姿调整，最终保证微波成像仪结构机构动态精度的要求。本发明通过减小天线展开机构复材杆件之间的装配应力、组件状态下考虑整机动态精度，增加总装过程中天线展开机构调整环节，解决了微波成像仪结构机构高动态精度难以调整的技术难题。

公开(公告)号：CN111121713B

公开(公告)日：2021-11-16

申请号：CN201911313270.7

申请日：2019-12-19

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 王正华 ,  申世军 ,  陈登海 ,  黄剑 ,  朱春雷 ,  尤智伟 ,  刘明芳

IPC: G01C1/02

Abstract: 本发明涉及一种外承力筒式结构舱体精度测量工艺基准建立方法，通过工艺基准、基准面建立、工艺基准及基准的转换等方法，确保舱体结构平台上电子仪器的装配精度。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制，可满足外承力筒式结构舱体大型舱体的精密电子仪器装配，满足舱体机械坐标系精度需求。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制，可以保证该外承力筒式大型结构舱体在空载状态、满载状态、与其它舱体连接、吊装、运输等过程，测量基准稳定、无变形，满足在各种状态下测量精度。

公开(公告)号：CN111121713A

公开(公告)日：2020-05-08

申请号：CN201911313270.7

申请日：2019-12-19

Applicant: 上海航天设备制造总厂有限公司

Inventor： 王正华 ,  申世军 ,  陈登海 ,  黄剑 ,  朱春雷 ,  尤智伟 ,  刘明芳

IPC: G01C1/02

Abstract: 本发明涉及一种外承力筒式结构舱体精度测量工艺基准建立方法，通过工艺基准、基准面建立、工艺基准及基准的转换等方法，确保舱体结构平台上电子仪器的装配精度。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制，可满足外承力筒式结构舱体大型舱体的精密电子仪器装配，满足舱体机械坐标系精度需求。本发明的基准转换方法、稳定的基准的建立、基准棱镜安装、测量工艺环研制，可以保证该外承力筒式大型结构舱体在空载状态、满载状态、与其它舱体连接、吊装、运输等过程，测量基准稳定、无变形，满足在各种状态下测量精度。