-
公开(公告)号：CN110674046A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910909423.8
申请日：2019-09-24
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种提高星载嵌入式文件系统可靠性的方法，包括：在当前星载综合电子计算机文件系统存储介质上，创建主分区和冗余分区；将文件上载到文件系统中时，分别存储至主分区和冗余分区；为上载到文件系统的每一份文件中添加MD5(Message-Digest Algorithm信息摘要算法)校验码值，并在文件加载时进行MD5校验码值比对；在启动星载应用程序时，对主分区，或冗余分区中的星载应用程序进行校验，若校验成功，则启动对应分区的文件；按照预设的周期，对主分区和冗余分区中上载的文件进行回读刷新。从而可以有效保证每次加载运行的应用程序是完整和可靠的，对于维持卫星长期在轨运行提供可靠性保证。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110474697A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201910781453.5
申请日：2019-08-22
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种相控阵天线TR组件故障监控方法及系统，该方法包括：获取每个TR组件的控制码；将所述控制码按照TR组件的接口时序发送给对应的TR组件；将写入所述TR组件的控制码进行回读，并将回读的控制码与发送的控制码进行比对；若比对结果不一致，则记录所述TR组件为可疑TR组件，并切换至故障处理模式，以排查所述可疑TR组件的故障。本发明可以实现TR组件的自主监控，发现早期的TR组件故障，避免因其故障导致相控阵天线波束指向错乱，影响应用作业，具有较高可靠性，另外还可以实现组件故障的快速定位，提升故障修复效率。
-
公开(公告)号：CN110674046B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201910909423.8
申请日：2019-09-24
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种提高星载嵌入式文件系统可靠性的方法，包括：在当前星载综合电子计算机文件系统存储介质上，创建主分区和冗余分区；将文件上载到文件系统中时，分别存储至主分区和冗余分区；为上载到文件系统的每一份文件中添加MD5(Message‑Digest Algorithm信息摘要算法)校验码值，并在文件加载时进行MD5校验码值比对；在启动星载应用程序时，对主分区，或冗余分区中的星载应用程序进行校验，若校验成功，则启动对应分区的文件；按照预设的周期，对主分区和冗余分区中上载的文件进行回读刷新。从而可以有效保证每次加载运行的应用程序是完整和可靠的，对于维持卫星长期在轨运行提供可靠性保证。
-
公开(公告)号：CN116165955A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310220553.7
申请日：2023-03-09
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明提供了一种可扩展的多通道高精度卫星载荷遥感数据采集系统，包括：电源模块、处理器模块，以及通用遥感采集模块，处理模块对来自载荷计算机的遥控指令进行解析后转发给通用遥感采集模块，并将来自载荷计算机的周期脉冲信号转发给通用遥感采集模块；通用遥感采集模块根据周期脉冲信号设置时序起点，按照解析后的遥控指令完成配置参数设置，以及将每个周期内的遥感数据进行缓存后通过同步串口转发给处理模块；配置参数包括：遥感数据的采集通道、采集时刻；电源模块与星上42V母线电源连接向处理器模块和通用遥感采集模块提供不同的工作电源。从而可以实现多路高精度遥感数据同时采集，产品设计具备可拓展性，满足不同载荷产品应用需求。
-
公开(公告)号：CN115639452A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211196275.8
申请日：2022-09-28
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
IPC: G01R31/26 , G01R31/265
Abstract: 本发明提供了一种用于VDMOS器件单粒子效应测试的自闭环系统，包括程控计算机、中转计算机、程控电源、抗辐照电路板以及微安表；程控计算机，用于控制操作中转计算机；中转计算机，用于驱动控制器转发遥控指令；抗辐照电路板，用于接收遥控指令并根据遥控指令产生0C脉冲，通过0C脉冲控制磁保持继电器阵列通断，利用磁保持继电器阵列及程控电源实现多组VDMOS器件的栅源、漏源分压；微安表，用于当将抗辐照电路板上各VDMOS器件进行单粒子照射时，检测VDMOS器件的漏源电流，漏源电流用于判断DMOS器件在单粒子作用下失效与否。本发明实现了对各类VDMOS器件单粒子效应快速测试功能，整个测试系统可实现不同工况下，不同类型VDMOS器件的测试覆盖性。
-
公开(公告)号：CN110474697B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN201910781453.5
申请日：2019-08-22
Applicant: 上海航天电子通讯设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种相控阵天线TR组件故障监控方法及系统，该方法包括：获取每个TR组件的控制码；将所述控制码按照TR组件的接口时序发送给对应的TR组件；将写入所述TR组件的控制码进行回读，并将回读的控制码与发送的控制码进行比对；若比对结果不一致，则记录所述TR组件为可疑TR组件，并切换至故障处理模式，以排查所述可疑TR组件的故障。本发明可以实现TR组件的自主监控，发现早期的TR组件故障，避免因其故障导致相控阵天线波束指向错乱，影响应用作业，具有较高可靠性，另外还可以实现组件故障的快速定位，提升故障修复效率。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.026 seconds)
