公开(公告)号：CN107944128B

公开(公告)日：2021-03-19

申请号：CN201711167449.7

申请日：2017-11-21

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 刘国斌 ,  金臻 ,  左丽丽 ,  祝周荣 ,  姜丽梅 ,  吴维林 ,  刘伟

IPC: G06F30/331 ,  G06F30/34

Abstract: 本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统，包括：仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块，可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程，可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令，接收并存储遥测信息，为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。

公开(公告)号：CN107944128A

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201711167449.7

申请日：2017-11-21

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 刘国斌 ,  金臻 ,  左丽丽 ,  祝周荣 ,  姜丽梅 ,  吴维林 ,  刘伟

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5009

Abstract: 本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统，包括：仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块，可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程，可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令，接收并存储遥测信息，为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。