基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统

    公开(公告)号:CN107944128B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201711167449.7

    申请日:2017-11-21

    Abstract: 本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统,包括:仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块,可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程,可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令,接收并存储遥测信息,为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。

    基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统

    公开(公告)号:CN107944128A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711167449.7

    申请日:2017-11-21

    CPC classification number: G06F17/5009

    Abstract: 本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统,包括:仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块,可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程,可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令,接收并存储遥测信息,为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。

    适用于在轨重构FPGA的通用仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN107729681A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201711078307.3

    申请日:2017-11-06

    CPC classification number: G06F17/5027

    Abstract: 本发明提供了一种适用于在轨重构FPGA的通用仿真方法和系统,该系统包括:仿复位模块、仿时钟模块、仿PROM模块、仿FLASH模块、仿Xilinx FPGA模块。仿复位模块提供复位信号;仿时钟模块提供在轨重构FPGA的工作时钟;仿PROM模块存储固定的Xilinx FPGA加载刷新数据;仿FLASH模块存储可在轨重构的Xilinx FPGA加载刷新数据;仿Xilinx FPGA模块用于接收在轨重构FPGA输出的加载刷新数据。本发明克服了在地面硬件联试中难以模拟的FLASH芯片发生单粒子翻转的难题;通过修改PROM、FLASH芯片中存储的数据文件格式可以灵活测试不同类型的FPGA在轨重构系统。

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