公开(公告)号：CN108226638A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711201206.0

申请日：2017-11-27

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天信息研究所

Inventor： 张威 ,  汪桃林 ,  赵嫚 ,  张贺 ,  张正娴 ,  范凤军

IPC: G01R23/20

CPC classification number: G01R23/20

Abstract: 本发明提供一种超低失真度测量方法，包括在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。本发明即基波抑制+频谱分析法，该方法综合基波抑制法和频谱分析法的优点，可以有效降低超低失真度测量的下限到‑130dB，解决了超低失真度无法准确测量的问题。

公开(公告)号：CN113776389A

公开(公告)日：2021-12-10

申请号：CN202110880791.1

申请日：2021-08-02

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 汪桃林 ,  张贺 ,  赵嫚 ,  陈炜 ,  倪博

IPC: F41G3/32 ,  H04L27/32 ,  G06F30/20 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明提供一种双载波复合制导信号模拟方法，包括如下步骤：S1、通过软件对副载频调制信号进行仿真，按照时序要求对码信息进行排列，建立数学模型，得到一个周期的仿真；S2、通过波形编辑软件将所述步骤S1中仿真产生的分时副载波调制信号和脉冲开关信号分别加载到任意波形发生器的通道1和通道2，将通道1输出的副载波信号加载到微波信号源上进行相位调制，将通道2输出的脉冲开关信号加载到微波信号源上进行脉冲调制；S3、微波信号源控制输出载波频率的跳变，从而输出一个双载波复合调制信号，可用于雷达相关产品研发、生产阶段的调制参数测试。

公开(公告)号：CN115190048A

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN202210695159.4

申请日：2022-06-20

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 任黎丽 ,  亓丽丽 ,  王帆 ,  陈炜 ,  黄淑毅 ,  张贺

IPC: H04L43/0823 ,  H04B17/00 ,  H04B17/336 ,  H04L27/227

Abstract: 本发明提供一种低码率信号解调及误码率测试装置，包括低码率调制信号误码产生单元、低码率调制信号信噪比标定单元、信号解调单元和误码率测试单元。其测试方法包括：S1、误码产生；S2、信噪比标定；S3、信号解调及误码率测试：S4、误码测试结果验证。本发明硬件设备采集+软件无线电解调的方案具有结构简单，同步性能好、可扩展性强等特点，不仅易于实现而且硬件成本低。采用极性开关法和平移调整的方法，可以快速解决解调过程中的‘倒π’现象和相位同步问题，计算量低。巴特沃斯二次滤波的方法大大提高解调信号的信噪比，提高了系统整体解码性能，降低系统误码率，本方法也可扩展应用于其他数字调制信号误码率的测试与验证。

公开(公告)号：CN112558114A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN202011411785.3

申请日：2020-12-04

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 汪桃林 ,  王飞 ,  张贺 ,  张威 ,  倪博 ,  邓倩岚

IPC: G01S19/21 ,  G01S19/01

Abstract: 本发明提供了一种卫星导航干扰信号模拟源及定标系统，本发明的模拟源由矢量信号发生器、任意波形发生器、计算机控制系统等组成，定标系统为矢量信号分析仪、测量接收机，先由任意波形发生器产生基带调制信号，分为I、Q两路信号输入至矢量信号发生器，产生矢量调制信号和模拟调制信号，分别由矢量信号分析仪和测量接收机定标。本发明主要产生矢量调制干扰、模拟调制干扰，并对干扰的信号进行定标，对现有L波段GNSS干扰的性能验证和评估提供了一定的技术支撑。

公开(公告)号：CN105510722A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201510906031.8

申请日：2015-12-09

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 邓倩岚 ,  辛康 ,  张贺

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R27/2694

Abstract: 本发明提供一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。本发明还提供平板吸波材料插损测量方法。本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。