公开(公告)号：CN106680618A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201611019471.2

申请日：2016-11-17

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天探维传媒科技有限公司

Inventor： 汪桃林 ,  范凤军 ,  陈斌 ,  谢恒贵 ,  马秋萍 ,  戴利剑 ,  曹焕丽

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/001

Abstract: 本发明公开了EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法，本发明公开的EMI测量系统脉冲强度测量装置包括：宽带衰减器、宽带示波器、PC机；宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理；宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号；PC机控制宽带示波器自动截取单脉冲波形，并计算脉冲强度。通过本发明可以快速测量脉冲强度参数。

公开(公告)号：CN204390033U

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201420762130.4

申请日：2014-12-05

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈光尧 ,  曹焕丽 ,  辛康 ,  谢恒贵

IPC: G05B23/02

Abstract: 本实用新型提供了一种专用测试车射频和电源单元校准装置，包括：与专用测试车连接的信号接口适配器；与所述信号接口适配器连接的测试仪器，用于从信号接口适配器接收测试数据；与所述测试仪器连接的测试控制器，用于对所述测试数据进行校准与信号分析。本实用新型可以实现对专用测试车的快速校准。