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公开(公告)号：CN104331681B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410470363.1
申请日：2014-09-16
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种获取造影剂迟豫时间的方法。自动化识别图像中造影剂样品，精确定位样品中心点计算样品试管半径大小，并以试管中心点根据试管半径大小自动选取ROI，计算ROI内像素信号平均值，实验标准偏差。最后对自动化提取的信号做非线性拟合，准确快速高效地计算出造影剂的自旋‑晶格弛豫时间T1和自旋‑自旋弛豫时间T2值。在图像中识别多个样品选取样品ROI过程为计算机自动化过程，不需要人工过程，在定位精确性、ROI形状一致性、结果准确性远高于传统方法；该方法从ROI选取、ROI信号提取到非线性拟合整个流程为全自动化过程，在时间效率上远远高于传统方法。
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公开(公告)号：CN104331681A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410470363.1
申请日：2014-09-16
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种获取造影剂迟豫时间的方法。自动化识别图像中造影剂样品，精确定位样品中心点计算样品试管半径大小，并以试管中心点根据试管半径大小自动选取ROI，计算ROI内像素信号平均值，实验标准偏差。最后对自动化提取的信号做非线性拟合，准确快速高效地计算出造影剂的自旋-晶格弛豫时间T1和自旋-自旋弛豫时间T2值。在图像中识别多个样品选取样品ROI过程为计算机自动化过程，不需要人工过程，在定位精确性、ROI形状一致性、结果准确性远高于传统方法；该方法从ROI选取、ROI信号提取到非线性拟合整个流程为全自动化过程，在时间效率上远远高于传统方法。
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公开(公告)号：CN104095635A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410361347.9
申请日：2014-07-28
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法，利用自回归模型计算生成ADC磁共振图像。利用多个且等间隔b值DWI序列可采集得到多幅不同b值的磁共振图像，对采集得到的所有像素的磁共振信号进行线性积分，即：利用Simpson数值积分法则对信号点做关于b值的多段等间隔积分，再建立自回归模型，最后对自回归模型参数进行最大似然估计得到ADC。是一种更加精确快速的计算E指数衰减系数的算法，该算法可以用于磁共振成像技术中快速精确计算ADC图像。本发明能够显著ADC磁共振图像计算效率和精确性，适用于放射科临床上各种相关疾病的诊断和研究。
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公开(公告)号：CN104095635B
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201410361347.9
申请日：2014-07-28
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法，利用自回归模型计算生成ADC磁共振图像。利用多个且等间隔b值DWI序列可采集得到多幅不同b值的磁共振图像，对采集得到的所有像素的磁共振信号进行线性积分，即：利用Simpson数值积分法则对信号点做关于b值的多段等间隔积分，再建立自回归模型，最后对自回归模型参数进行最大似然估计得到ADC。是一种更加精确快速的计算E指数衰减系数的算法，该算法可以用于磁共振成像技术中快速精确计算ADC图像。本发明能够显著ADC磁共振图像计算效率和精确性，适用于放射科临床上各种相关疾病的诊断和研究。
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