压力精度测量系统和方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119085935A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202411125430.6

    申请日:2024-08-16

    Abstract: 本申请提供了一种压力精度测量系统和方法,适用于核反应堆,压力精度测量系统,包括:待测设备,待测设备包括远传膜片组件和变送器,其中远传膜片组件包括远传膜片,远传膜片还包括压力接口,远传膜片适于对变送器传递待测压力;加压设备,包括测量仪表,加压设备适于对远传膜片提供加压压力,测量仪表适于显示加压压力;第一引压管,第一引压管的一端连接压力接口、另一端连接加压设备,第一引压管适于传递加压设备提供给远传膜片的加压压力;数据采集装置及处理中心。本申请能够精确测量待测设备的压力测量精度,进一步提高待测设备的可靠性。

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