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公开(公告)号：CN105243551A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201510658327.2
申请日：2015-10-12
Applicant: 上海应用技术学院
Abstract: 本发明涉及一种适应于商品包装的防伪点阵图形编解码方法，确定点阵图形所需的旋转角、标记点数，为了提高点阵在随机破坏下的可恢复率，将定义后图形关于矩形中心取冗余对称图形，对每组图形编码，进行点阵冗余分布，将生成的点阵与商品原始信息相关联，对应信息存入数据库供解码追溯；根据点阵信息与编码规则，解码读出原始信息，与数据库信息比对，确定商品属性。本发明的方法在相同喷墨量的情况下，本发明的多进制方案在数据量方面高于二进制的方案，空间利用率得到进一步提高，从而为互关联与自关联的设计提供了更多的发挥空间，有效地提高了编码的可靠性。可以避免大数据量与码元、喷墨成本之间的矛盾，适用于大批量、低成本的商品防伪追溯。
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公开(公告)号：CN105243551B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201510658327.2
申请日：2015-10-12
Applicant: 上海应用技术学院
Abstract: 本发明涉及一种适应于商品包装的防伪点阵图形编解码方法，确定点阵图形所需的旋转角、标记点数，为了提高点阵在随机破坏下的可恢复率，将定义后图形关于矩形中心取冗余对称图形，对每组图形编码，进行点阵冗余分布，将生成的点阵与商品原始信息相关联，对应信息存入数据库供解码追溯；根据点阵信息与编码规则，解码读出原始信息，与数据库信息比对，确定商品属性。本发明的方法在相同喷墨量的情况下，本发明的多进制方案在数据量方面高于二进制的方案，空间利用率得到进一步提高，从而为互关联与自关联的设计提供了更多的发挥空间，有效地提高了编码的可靠性。可以避免大数据量与码元、喷墨成本之间的矛盾，适用于大批量、低成本的商品防伪追溯。
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公开(公告)号：CN105044209A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510430866.0
申请日：2015-07-21
Applicant: 上海应用技术学院
IPC: G01N29/04
Abstract: 本发明涉及一种材料缺陷位置和尺寸的超声多途检测方法，首先，采用排成一行的传感器阵列的标准收发测量法来测量一个孤立缺陷的尺寸，对接收传感器的超声信号进行建模，识别多途信号；然后，使用传统的超声检测技术，识别出直达反射路径DRP，用同一目标，预估多途组合路径MP-C和多途路径MP-W，用直达反射路径DRP和多途组合MP-C来检测缺陷的顶部，用来检测缺陷底部的多途路径MP-W用来检测缺陷的底部，通过所有被识别的多路径进行超声成像，得到检测缺陷的尺寸。只进行单次测量就能检测缺陷的位置和尺寸。
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