一种砝码质量及磁性一体检测方法、装置及介质

    公开(公告)号:CN116678488A

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202310642904.3

    申请日:2023-06-01

    IPC分类号: G01G23/01 G01R33/12

    摘要: 本发明公开了一种砝码质量及磁性一体检测方法、装置及介质,该方法包括:接收预加载指令,执行第一标定砝码在质量比较仪上的加载、卸载操作;在进行待测砝码的磁性测量时,将所述待测砝码放置到承载平台上;启动砝码外形尺寸扫描,获取所述待测砝码每个面的中心坐标;通过六轴机器人控制置零后的高斯探针依次定位到每个面的中心坐标,读取每个面的中心坐标及磁性测量值;当所述磁性测量值合格时,控制所述待测砝码在所述质量比较仪上进行所述加载、卸载操作,读取所述待测砝码的质量检测值。本发明能够在同一套系统中一次性完成砝码质量及磁性的检测,减少了工作量和资源的消耗,提升了检测效率。

    一种砝码磁性测量方法和装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116679246A

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202310643167.9

    申请日:2023-06-01

    IPC分类号: G01R33/12 G01G23/01

    摘要: 本发明公开了一种砝码磁性测量方法和装置,其中方法包括:将高斯计放入零磁腔置零,将待测砝码放置于水平砝码测量平台上;根据待测砝码的尺寸、待测砝码的形状和预设检测命令,将高斯计在待测砝码表面的若干待测位置点进行移动并测量对应待测位置点的磁感应强度值,若干待测位置点包括:平行于待测砝码表面的平面上的若干第一水平点位或垂直于待测砝码表面的平面上的若干垂直点位。本发明通过移动高斯计对砝码周围水平平面或垂直平面上待测位置点测量磁感应强度,能够精准地分析出待测砝码的磁性,避免了由于大砝码重量大,导致难以通过翻转大砝码测量其各个面的磁感应强度。

    一种砝码检定装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220120238U

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202321378161.5

    申请日:2023-06-01

    IPC分类号: G01G23/01

    摘要: 本实用新型公开了一种砝码检定装置,包括放置台、若干升降桩和四个调节组件,其中放置台用于放置待检砝码,且放置台的表面设置有若干贯穿的升降槽,若干升降桩与升降槽一一对应,且升降桩升降时,能够穿过对应的升降槽并带动待检砝码升降,四个调节组件分别设置于待检砝码的四个侧面,且四个调节组件均通过传动杆连接有推动件,使待检砝码可在调节组件的作用下在四个方向上微调,实现了在不影响抬升待检砝码的功能前提下,能够根据实际需求对待检砝码于放置台上的位置进行微调,使得待检砝码能够有效率地放置于最佳位置,进而有效提高了检定装置校准和测量的准确度和稳定性。

    一种砝码串组件
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216433223U

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202123047232.7

    申请日:2021-12-06

    IPC分类号: G01G21/26 G01G23/01

    摘要: 本实用新型公开了一种砝码串组件,包括内圈砝码拉杆、外圈砝码拉杆、内圈砝码组和外圈砝码组,内圈砝码组内包括至少一个内圈砝码,外圈砝码组内包括至少一个外圈砝码;内圈砝码的底壁开有第一凹槽,第一凹槽顶壁开有第一通孔,内圈砝码拉杆上设置有至少一个第一限位块,内圈砝码拉杆穿过第一通孔;外圈砝码的底壁开有第二凹槽,外圈砝码拉杆上设置有至少一个第二限位块,第二限位块的顶壁与第二凹槽的顶壁接触,外圈砝码拉杆穿过第二通孔;最下方的外圈砝码上连接有多根支撑柱,支撑柱和最下方内圈砝码能够同时放置于天平上,本结构可以增加砝码串对天平进行检定的测量点,实现多个组合测量点,实现天平的自动化检测。

    一种砝码串
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216433224U

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202123121083.4

    申请日:2021-12-06

    IPC分类号: G01G21/26 G01G23/01

    摘要: 本实用新型公开了一种砝码串,包括内圈砝码拉杆、外圈砝码拉杆、内圈砝码组和外圈砝码组,内圈砝码组包括至少一个内圈砝码,外圈砝码组包括至少一个外圈砝码;外圈砝码的外圆周壁上固定有凸缘,外圈砝码拉杆上固定有承载台,承载台上固定有多根吊柱,吊柱上设置有第二限位块,多根吊柱上处于同一高度的第二限位块组成悬挂单元,外圈砝码上的凸缘放置于悬挂单元内的多个第二限位块上;外圈砝码上开有贯穿孔,内圈砝码的底壁开有凹槽,凹槽的顶壁开有通孔,内圈砝码拉杆上固定有第一限位块,第一限位块的顶壁与凹槽的顶壁接触,内圈砝码拉杆穿过通孔;本结构以增加砝码串对天平进行检定的测量点,实现多个组合测量点,实现天平的自动化检测。

    一种高斯计探头浮动结构及砝码磁性测量装置

    公开(公告)号:CN220064352U

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202321380237.8

    申请日:2023-06-01

    IPC分类号: G01R33/02 G01R33/12 G01G23/01

    摘要: 本申请提供了一种高斯计探头浮动结构及砝码磁性测量装置,其中,高斯计探头浮动结构包括夹持组件与高斯计探头,高斯计探头沿自身长度方向活动安装于夹持组件的活动端;测量时,高斯计探头垂直于砝码的待测表面,砝码沿高斯计探头的长度方向抵接高斯计探头对应探针的一端时,砝码推动高斯计探头沿自身长度方向相对夹持组件向背离探针一侧运动,以此缓冲砝码对高斯计探头的冲击力,有效降低高斯计探头上探针的损坏概率,进而保证砝码磁感应强度测量作业的正常进行,延长高斯计的使用寿命,并降低砝码磁感应强度的测量成本。

    一种大质量比较仪砝码校准装置

    公开(公告)号:CN109470351A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811341599.X

    申请日:2018-11-12

    IPC分类号: G01G23/01

    摘要: 本发明公开了一种大质量比较仪砝码校准装置,涉及计量领域。包括:底座,所述底座上设有用于称量砝码的称量盘;支撑结构,设置于所述称量盘,所述支撑结构上设有支撑间隙,所述支撑间隙的宽度小于所述砝码的直径;加载框,可拆卸地连接于所述底座,所述加载框包括用于支撑所述砝码的加载台;当所述加载框设置在所述底座上时,所述加载台设置于所述支撑间隙内,所述加载台远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距,小于所述支撑结构远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距。本发明减小了加载框的对校准过程的影响,即减小了绝对误差产生的可能,增加了比较仪砝码校准时的准确度和稳定性。

    多层式叉齿和砝码承载盘的组合

    公开(公告)号:CN104748833A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201510145282.9

    申请日:2015-03-31

    IPC分类号: G01G23/01

    摘要: 本发明公开了一种多层式叉齿和砝码承载盘的组合,包括一个多层式叉齿和至少一个砝码承载盘;多层式叉齿包括把手以及设置在把手上的多个平行的U型叉齿,且多个U型叉齿沿所述把手的高度方向竖直排布,且每个U型叉齿上设有砝码承载盘的安装部,安装部包括第一凹部;砝码承载盘为中心设有凹槽的片状结构;当一个或多个砝码承载盘加载到多层式叉齿上时,单个砝码承载盘置于一个U型叉齿上,且凹槽置于第一凹部处,凹槽和第一凹部的形状相匹配。本发明结构稳固,且将砝码加载到砝码承载盘上后,砝码不易掉落;并且本发明可以同时加载五个砝码,在用组合比较法检定砝码时,满足我国《砝码检定规程》对于砝码个数的规定。

    一种双砝码传送、交替加载的装置

    公开(公告)号:CN111792363A

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN202010661541.4

    申请日:2020-07-10

    IPC分类号: B65G47/90 G01G23/01

    摘要: 本发明公开了一种双砝码传送、交替加载的装置,包括:装置主体,包括基座和罩体,罩体安装于所述基座,罩体和基座围绕形成加载空间;工作台,工作台安装于基座,用于放置待测量砝码和/或配衡砝码;质量比较仪,质量比较仪安装于基座,用于测量待测量砝码的质量;砝码传送机构,包括驱动组件和传送臂,驱动组件安装于基座,传送臂安装于驱动组件,驱动组件能够驱动传送臂将待测量砝码和/或所述配衡砝码在工作台与质量比较仪之间传送;其中传送臂的砝码放置部的宽度能够满足两个克组砝码沿着所述砝码放置部的宽度方向并排放置,凹槽能够实现砝码自动定中心,提高砝码测量精度和传送、检测的效率。

    一种定心称量装置及称量方法

    公开(公告)号:CN109470349A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811341600.9

    申请日:2018-11-12

    IPC分类号: G01G21/22

    摘要: 本发明公开了一种定心称量装置及称量方法,涉及计量领域。包括:底座,所述底座上设有定心组件,所述定心组件上设有用于称量待测件的称量盘,所述定心组件用于调节所述称量盘与所述底座之间的夹角;支撑结构,设置于所述称量盘,所述支撑结构上设有支撑间隙,所述支撑间隙的宽度小于所述待测件的宽度;加载框,可拆卸地连接于所述底座,所述加载框包括用于支撑所述待测件的加载台;当所述加载框设置在所述底座上时,所述加载台设置于所述支撑间隙内,所述加载台远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距,小于所述支撑结构远离所述底座的一侧与所述底座之间的间距。降低了待测件产生偏载误差的可能,增加了待测件称重的准确度和稳定性。