公开(公告)号：CN114325326B

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202111640434.4

申请日：2021-12-29

Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司

Inventor： 沈中意 ,  丁亚男 ,  李文 ,  代小云 ,  陈诺

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种芯片电性能自动测试系统、方法及其可控电源模块，所述系统包括：PC计算机，用于运行控制程序以自动设定温箱参数、电源参数以及接收测试数据生成测试报告；交换机，用于将高低温箱、可控电源模块与PC计算机相连；高低温箱，用于提供测试所需的温度可控的环境；可控电源模块，用于接收所述交换机传递的PC计算机所设定的电源参数并在该参数的控制下输出对应电压；IC测试板，用于在所述可控电源模块的控制下完成芯片测试并将测试结果经所述可控电源模块和交换机返回PC计算机。

公开(公告)号：CN114325326A

公开(公告)日：2022-04-12

申请号：CN202111640434.4

申请日：2021-12-29

Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司

Inventor： 沈中意 ,  丁亚男 ,  李文 ,  代小云 ,  陈诺

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种芯片电性能自动测试系统、方法及其可控电源模块，所述系统包括：PC计算机，用于运行控制程序以自动设定温箱参数、电源参数以及接收测试数据生成测试报告；交换机，用于将高低温箱、可控电源模块与PC计算机相连；高低温箱，用于提供测试所需的温度可控的环境；可控电源模块，用于接收所述交换机传递的PC计算机所设定的电源参数并在该参数的控制下输出对应电压；IC测试板，用于在所述可控电源模块的控制下完成芯片测试并将测试结果经所述可控电源模块和交换机返回PC计算机。