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公开(公告)号：CN113654764A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110755903.0
申请日：2021-07-05
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种保偏光纤拍长测量装置和测量方法，本发明测量装置包括前处理光路、光线延迟器、标准单模光纤、测试光纤、显示终端、分束器和合束器，光线延迟器、标准单模光纤依次设置于分束器与合束器之间组成参考光路，测试光纤设置于分束器与合束器之间组成测量光路，合束器与CCD感光器组成成像光路，显示终端与CCD感光器电性连接。测量方法包括使用测量装置获取保偏光纤拍长的步骤。本发明采用非接触测量方式，对光纤没有任何损害，精度高，操作简单，测量范围广。本发明装置和方法对保偏光纤的研制、生产和应用环节具有指导作用，并对偏振光学、保偏光纤传感应用等领域提供试验基础。
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公开(公告)号：CN112665823A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202011466329.9
申请日：2020-12-14
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种光纤模式时域能量波动曲线测量装置和测量方法，测量装置包括光线延迟器、标准单模光纤、测试光纤、显示终端、第一分光镜和第二分光镜，光线延迟器、标准单模光纤依次设置于第一分光镜与第二分光镜之间组成参考光路，测试光纤设置于第一分光镜与第二分光镜之间组成测量光路，第二分光镜与CCD感光器组成成像光路，显示终端与CCD感光器电性连接，测量方法包括使用测量装置获取光纤模式时域能量波动曲线的步骤。采用本发明的技术方案，不需破坏测试光纤，对测量环境适应性好，操作简单，光线延迟器由计算机进行控制，可对参考光束的延迟时间进行调整，测量得出不同延时状态下的模式能量分布，为多模光纤性能的研究提供了试验基础。
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公开(公告)号：CN116679437A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310758401.2
申请日：2023-06-26
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种应用于液体内物体测量的长物距大视场倍率可切换显微物镜，涉及显微镜领域，包括5倍显微物镜的光学部件，以及其与副镜头组件组合而成的10倍显微物镜的光学部件，通过切换副镜头组件，实现5倍和10倍下的倍率切换，具有长物距、大视场的优点，并且在倍率切换时，光学长度不变，应用于显微观察时，操作简单，并且能够对液体环境内的物体进行显微观察，具有较好的传输特性，全视场内分辨率高，畸变小。
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公开(公告)号：CN113281011A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110500314.8
申请日：2021-05-08
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种磁致折变光纤折射率测量系统，包括光源101，通过分光装置102将光源101的光分为两束，一束光作为参考光，另一束作为测量光，待测光纤105置于磁场中，测量光经过待测光纤105透射后和参考光进入光路干涉模块108。激光光源通过单模光纤连接输出到分光设备，分光设备分路器将光源分为两束，经反光镜改变路径后将经过磁致折变光纤的物光与参考光进行耦合合束，CCD感光界面形成干涉，通过调整分路器可以调节物光波与参考光波角度，光线聚焦获取清晰的全息图。通过干涉信息处理从而获取磁敏感光纤磁场下的折射率变化情况，进一步验证磁敏感掺杂元素光纤的磁致折变特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104807615A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201510195927.X
申请日：2015-04-23
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种基于数字全息的光纤折射率三维分布测量装置和方法，装置包括激光器，第一衰减片，分束镜，第一半波片，比色皿，第一显微物镜，合束镜，CCD感光元件，电脑，第二衰减片，第二显微物镜，第二半波片，第一反光镜和第二反光镜；把激光器，第一衰减片，分束镜，第一半波片，比色皿，被测光纤，第一显微物镜，合束镜，CCD感光元件通过激光器校准固定到一条直线上；通过两个反光镜使参考光和物光有一夹角。本发明具有测量精度高，一致性好，测量速度快，操作简单，无需对光纤进行切断及断面平整处理，不仅可测量不同直径光纤的折射率三维分布，还可用于测量长度方向上折射率分布不均匀的特种光纤的折射率三维分布。
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公开(公告)号：CN113465878B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202110756102.6
申请日：2021-07-05
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种保偏少模光纤拍长测量装置和测量方法。本测量装置包括前处理光路、光线延迟器、标准单模光纤、测试光纤、显示终端、分束器和合束器，光线延迟器、标准单模光纤依次设置于分束器与合束器之间组成参考光路，测试光纤设置于分束器与合束器之间组成测量光路，合束器与CCD感光器组成成像光路，显示终端与CCD感光器电性连接。测量方法包括使用测量装置获取保偏少模光纤拍长的步骤。本发明的技术方案属于非接触测量，对测量环境适应性好，操作简单，精度高，具有良好一致性。本仪器可对保偏少模光纤的基模和高阶模拍长进行同时测量，对保偏少模光纤的研制、发展具有指导作用。
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公开(公告)号：CN116990261A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310758407.X
申请日：2023-06-26
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了基于数字全息的光纤预制棒折射率测试方法，涉及科学分析仪器领域，首先通过对离轴数字全息显微层析干涉光路的改进，该光路包括激光器、扩束器、分束器、两面反射镜、两个镜头、合束器、CCD等元器件，光路经过扩束、分束后，由反射镜改变光路，一路光束穿透预制棒携带折射率信息，另一路光束为参考光束，再次合束后，由CCD进行采集干涉信息，并由计算机进行分析，可实现有源棒、单模棒和少模棒的二维折射率的精确测量，对高端特种光纤的研制和开发具有重要的支撑和推动作用。
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公开(公告)号：CN113465878A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110756102.6
申请日：2021-07-05
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种保偏少模光纤拍长测量装置和测量方法。本测量装置包括前处理光路、光线延迟器、标准单模光纤、测试光纤、显示终端、分束器和合束器，光线延迟器、标准单模光纤依次设置于分束器与合束器之间组成参考光路，测试光纤设置于分束器与合束器之间组成测量光路，合束器与CCD感光器组成成像光路，显示终端与CCD感光器电性连接。测量方法包括使用测量装置获取保偏少模光纤拍长的步骤。本发明的技术方案属于非接触测量，对测量环境适应性好，操作简单，精度高，具有良好一致性。本仪器可对保偏少模光纤的基模和高阶模拍长进行同时测量，对保偏少模光纤的研制、发展具有指导作用。
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公开(公告)号：CN112665823B
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202011466329.9
申请日：2020-12-14
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种光纤模式时域能量波动曲线测量装置和测量方法，测量装置包括光线延迟器、标准单模光纤、测试光纤、显示终端、第一分光镜和第二分光镜，光线延迟器、标准单模光纤依次设置于第一分光镜与第二分光镜之间组成参考光路，测试光纤设置于第一分光镜与第二分光镜之间组成测量光路，第二分光镜与CCD感光器组成成像光路，显示终端与CCD感光器电性连接，测量方法包括使用测量装置获取光纤模式时域能量波动曲线的步骤。采用本发明的技术方案，不需破坏测试光纤，对测量环境适应性好，操作简单，光线延迟器由计算机进行控制，可对参考光束的延迟时间进行调整，测量得出不同延时状态下的模式能量分布，为多模光纤性能的研究提供了试验基础。
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