公开(公告)号：CN119104472A

公开(公告)日：2024-12-10

申请号：CN202411207264.4

申请日：2024-08-30

Applicant: 上海大学

Inventor： 杨连乔 ,  田博清 ,  杨骁妮 ,  吴马佳奇 ,  李施翮

IPC: G01N15/08

Abstract: 本发明提供了一种测试水蒸气透过率的分子动力模拟模型及其模拟方法，属于分子动力学技术领域。本发明通过从原子、分子层面了解影响薄膜水蒸气透过率的因素，能够有效地评估和提升OLED封装材料的性能，从而推动OLED技术的进一步发展和应用。本发明利用分子动力学模拟计算薄膜的水蒸气透过率，不但可以有效减少因实验带来的成本与消耗，而且还可以模拟因相关设备和材料的限制等无法准确进行和完成的实验。本发明获得的SiNx薄膜的水蒸气透过率，可以为封装材料的实验制备参数与薄膜封装性能之间的关系提供理论参考，从而提升柔性电子设备的使用寿命。

公开(公告)号：CN117198413A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311152730.9

申请日：2023-09-07

Applicant: 上海大学

Inventor： 杨连乔 ,  杨骁妮 ,  朱帅 ,  简毛亮 ,  吴马佳奇 ,  马琰 ,  朱昊睿

IPC: G16C10/00 ,  C23C16/455 ,  G16C20/10 ,  G16C20/30 ,  G16C20/80

Abstract: 本发明属于薄膜表面粗糙度分析领域，并公开了一种基于分子动力学的薄膜表面粗糙度分析方法，包括：生成气体基团分子和基底并构建分子动力模拟模型，并设定相关参数；在分子动力模拟模型中配置原子间相互作用势以及能量最小化处理；进行原子沉积，在原子沉积的过程中对含有原子坐标信息的输出文件进行可视化处理，得到不同时刻薄膜沉积的快照数据和最终薄膜生长的形貌图；对形貌图进行模拟分析，得到薄膜表面原子坐标数据，结合均方根粗糙度RMS公式获取薄膜表面原子个数及原子平均高度值数据；最后进行统计分析得到薄膜表面粗糙度数据。本发明技术方案利用分子动力学模拟计算薄膜生长时表面粗糙度大小，有效减少因实验的带来成本与消耗。

公开(公告)号：CN115903983A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202211620932.7

申请日：2022-12-16

Applicant: 上海大学

Inventor： 杨连乔 ,  杜王煜 ,  简毛亮 ,  杨骁妮 ,  朱帅 ,  张建华

IPC: G05F1/56 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明公开一种用于半导体器件瞬态热测试的恒流源，涉及瞬态热测试技术领域，该恒流源包括：DCDC隔离电源以及LDO降压模块、高精度电压基准模块、极性转换模块、25.5MA档电流源模块、2A档电流源模块、大小电流切换模块、以及BNC接口输出模块；本发明可以在大电流输出下保持高精度，还可以实现大小电流之间的快速切换，来实现瞬态热测试的要求。