公开(公告)号：CN118777365A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202410757459.X

申请日：2024-06-12

Applicant: 上海大学

Inventor： 杨连乔 ,  朱昊睿 ,  简毛亮 ,  田博清 ,  马琰

IPC: G01N25/20 ,  G06F17/18

Abstract: 本申请公开一种瞬态热测试中冷却曲线的分段拟合方法及设备，涉及电子器件热性能测试领域，包括：基于第一节点和第二节点的初始位置，以及，第三节点的具体位置，将温度变化曲线划分为第一阶段曲线和第二阶段曲线；对第一阶段曲线上的数据采用平方根拟合，以及，对第二阶段曲线上的数据采用指数拟合，得到初步拟合曲线；保持第一节点的初始位置不变，执行第一流程直至第二节点的位置达到第一设定位置；当第二节点的位置达到第一设定位置时，执行第二流程直至第一节点的位置达到第二设定位置；基于第一节点和第二节点的最优位置，以及，第三节点的具体位置，重新划分温度变化曲线并分段拟合，得到拟合冷却曲线。本申请提高了冷却曲线的拟合精度。

公开(公告)号：CN117198413A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311152730.9

申请日：2023-09-07

Applicant: 上海大学

Inventor： 杨连乔 ,  杨骁妮 ,  朱帅 ,  简毛亮 ,  吴马佳奇 ,  马琰 ,  朱昊睿

IPC: G16C10/00 ,  C23C16/455 ,  G16C20/10 ,  G16C20/30 ,  G16C20/80

Abstract: 本发明属于薄膜表面粗糙度分析领域，并公开了一种基于分子动力学的薄膜表面粗糙度分析方法，包括：生成气体基团分子和基底并构建分子动力模拟模型，并设定相关参数；在分子动力模拟模型中配置原子间相互作用势以及能量最小化处理；进行原子沉积，在原子沉积的过程中对含有原子坐标信息的输出文件进行可视化处理，得到不同时刻薄膜沉积的快照数据和最终薄膜生长的形貌图；对形貌图进行模拟分析，得到薄膜表面原子坐标数据，结合均方根粗糙度RMS公式获取薄膜表面原子个数及原子平均高度值数据；最后进行统计分析得到薄膜表面粗糙度数据。本发明技术方案利用分子动力学模拟计算薄膜生长时表面粗糙度大小，有效减少因实验的带来成本与消耗。