公开(公告)号：CN118868860A

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202310472003.4

申请日：2023-04-26

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 宋璟昱 ,  杨丽婷 ,  冉旭 ,  俞剑

IPC: H03H17/00 ,  H03H17/02

Abstract: 本发明公开了一种高速FIR滤波器，该FIR滤波器包括：FIR滤波器组、输出控制模块；所述FIR滤波器组包括一个或多个双通道子滤波器；所述双通道子滤波器，用于将低速输入数据转换到高时钟频率上进行滤波运算，将运算得到的高速滤波数据转换为低速滤波数据；所述输出控制模块，用于将所述FIR滤波器组输出的低速滤波数据转换为标准总线格式输出。利用本发明方案，可以提高FIR滤波器的时钟频率，降低资源开销。

公开(公告)号：CN119805154A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202311302590.9

申请日：2023-10-09

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 杨丽婷 ,  俞剑 ,  陈宁

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种测试电路及其控制方法、存储介质、芯片，测试电路包括至少一个级联的测试模块，测试模块包括：第一信号选择单元，第一信号选择单元的第一输入端耦接待测试模块中的插入点的输出端，第一信号选择单元的第二输入端耦接前一级测试模块的输出端或者测试向量输入端；寄存单元，寄存单元的输入端耦接第一信号选择单元的输出端，寄存单元的输出端为测试模块的输出端；第二信号选择单元，第二信号选择单元用于选择性地将待测试模块中的插入点的输出信号或者寄存单元中的信号输出至后级负载电路。本申请能够对待测试模块进行任意切割和划分并插入测试电路进行测试，提升测试覆盖率。