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公开(公告)号：CN114337272B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202210002977.1
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于DC‑DC转换器的轻载模式维持电路及其控制方法。本发明通过电路中增加随机计数器，通过随机序列产生不同的退出high duty的状态，随机数的控制方法可以有效的避免如果前述判断条件存在问题时，系统一直采用错误的判断条件而产生相应的错误结果，进而使得系统能够正确的退出high duty，维持系统的稳定。
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公开(公告)号：CN114337271A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210002976.7
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于变换器的异常多脉冲消除电路。本发明通过研究驱动管的开关逻辑，设计对应的逻辑控制时序，仔细研究发现，出现谐振主要在电路上下管均关断的状态，结合环路特性，针对性的设计一路逻辑状态，当检测到系统内部处于dcm下，且上下管均关断时，使得该逻辑信号为高，内部电路检测到该高电平信号后，将ripple injection sw点至内部路径进行处理，断开该条传输路径，使内部点处于floating，从而避免sw点处的谐振信号通过电容直接耦合至内部电路，造成输出的非线性。
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公开(公告)号：CN114337270A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210002974.8
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于变换器的异常多脉冲消除电路。本发明通过电路内部修改电路整体，从sw点新增一电容对内部节点进行耦合，经过内部一ota进行反向，从而达到抑制由sw点带来的影响。现有ripple injection仅通过电路内部的电容对该点进行滤波处理，但是为了达到最佳的消除效果，电阻电容的尺寸较大，对电路的面积要求十分严格，本次发明通过对电路进行简单调整，可以去除电路内部电阻电容，并且可以优化电路特性。
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公开(公告)号：CN114337272A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210002977.1
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于DC‑DC转换器的轻载模式维持电路及其控制方法。本发明通过电路中增加随机计数器，通过随机序列产生不同的退出high duty的状态，随机数的控制方法可以有效的避免如果前述判断条件存在问题时，系统一直采用错误的判断条件而产生相应的错误结果，进而使得系统能够正确的退出high duty，维持系统的稳定。
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公开(公告)号：CN114280464A
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN202210002719.3
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于PAD测试点的测试电路。本发明通过电路设计并结合layout上一极小pad，同时配合电路内部逻辑信号，可以实现预修调的作用，通过该信号可以获得真实的最小修调步距，即一位lsb，从而可以在极大简化系统测试流程的同时提高测试效率和精度。本发明可以降低电路结构难度的同时提高测试效率，简化测试流程，具有极强的实用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117348673A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311575360.X
申请日：2023-11-23
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: G05F1/56
Abstract: 本申请提供一种带隙基准电路、芯片模组及电子设备。该带隙基准电路包括：第一级放大单元、第二级放大单元和第三级放大单元。通过第一级放大单元、第二级放大单元和第三级放大单元可以构成完整的负反馈环路。采用第一三极管和第二三极管作为第一级放大单元的差分输入对，使带隙基准电路不用单独设置运算放大器，简化带隙基准电路的电路结构，以及能够避免因设置运算放大器而引入运算放大器的失调电压对参考电压精度的影响。如此，能够提高参考电压的精度。此外，在第三级放大单元中，通过第一电阻与P型三极管电连接，使负温度系数电压和正温度系数电压能够结合。这样，能够得到零温度系数的参考电压，使参考电压不随温度的变化而变化。
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公开(公告)号：CN114326916B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202210002971.4
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: G05F3/20
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种基准电压检测电路。本发明采用一个极简单迟滞比较器电路，并将其与系统运放进行了结合，利用迟滞电压与运放第一级电路进行结合，则只有当运放输入两端电压低于设定值时，比较器才能够翻转，提高了精度。本发明的方法，电路结构简单，成本低，速度快，精度高，且不会对系统整体精度产生影响；同时本发明的检测电路可以高效利用于各种bandgap结构中，具有极强的可移植及鲁棒性。
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公开(公告)号：CN114326916A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210002971.4
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: G05F3/20
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种基准电压检测电路。本发明采用一个极简单迟滞比较器电路，并将其与系统运放进行了结合，利用迟滞电压与运放第一级电路进行结合，则只有当运放输入两端电压低于设定值时，比较器才能够翻转，提高了精度。本发明的方法，电路结构简单，成本低，速度快，精度高，且不会对系统整体精度产生影响；同时本发明的检测电路可以高效利用于各种bandgap结构中，具有极强的可移植及鲁棒性。
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公开(公告)号：CN117526921A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311558030.X
申请日：2023-11-21
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: H03K19/0175 , H03K7/08
Abstract: 本申请提供一种电平移位电路、芯片、驱动模块及电源设备。该电路包括：短脉冲发生单元、调节单元、抬压单元、信号锁存单元和检测单元。通过短脉冲发生单元将第一脉冲宽度调制信号转换为第一短脉冲信号和第二短脉冲信号。检测单元可以在检测到信号锁存单元被触发时，根据第一短脉冲信号得到第一检测信号，以及根据第二短脉冲信号得到第二检测信号。进而，调节单元可以对第一检测信号和第一短脉冲信号进行逻辑处理，使第一短脉冲信号会因第一检测信号被屏蔽。如此，调节单元可以减小第一短脉冲信号的脉冲宽度，使得到的第一调节短脉冲信号持续的时间缩短，降低电路的功耗。
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公开(公告)号：CN114280464B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202210002719.3
申请日：2022-01-04
Applicant: 上海南芯半导体科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于PAD测试点的测试电路。本发明通过电路设计并结合layout上一极小pad，同时配合电路内部逻辑信号，可以实现预修调的作用，通过该信号可以获得真实的最小修调步距，即一位lsb，从而可以在极大简化系统测试流程的同时提高测试效率和精度。本发明可以降低电路结构难度的同时提高测试效率，简化测试流程，具有极强的实用性。
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