公开(公告)号：CN109783300B

公开(公告)日：2021-07-27

申请号：CN201811560881.7

申请日：2018-12-20

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天电子通讯设备研究所

Inventor： 景乃锋 ,  斯涛 ,  游红俊 ,  郑思杰 ,  贺光辉 ,  蒋剑飞 ,  王琴

IPC: G06F11/263

Abstract: 本发明提供了一种基于关键度的FPGA软错误多频度刷新方法，包括如下步骤：S1，以未防护电路作为测试电路，对测试电路对应的配置帧进行故障注入实验，得到配置帧关键度分布；S2，根据配置帧关键度分布计算最优刷新比例，调整不同帧的刷新频率；S3，根据最优刷新比例生成刷新地址序列，利用刷新地址序列依次对配置帧进行扫描并检查正确性，得到防护后电路。同时提供了一种刷新器。随机故障注入测试的结果显示，本发明所提供的基基于关键度的FPGA软错误多频度刷新方法及刷新器，相比盲刷新技术，系统出错率平均下降了20％，实现了对电路软错误的有效保护。

公开(公告)号：CN109783300A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201811560881.7

申请日：2018-12-20

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天电子通讯设备研究所

Inventor： 景乃锋 ,  斯涛 ,  游红俊 ,  郑思杰 ,  贺光辉 ,  蒋剑飞 ,  王琴

IPC: G06F11/263

Abstract: 本发明提供了一种基于关键度的FPGA软错误多频度刷新方法，包括如下步骤：S1，以未防护电路作为测试电路，对测试电路对应的配置帧进行故障注入实验，得到配置帧关键度分布；S2，根据配置帧关键度分布计算最优刷新比例，调整不同帧的刷新频率；S3，根据最优刷新比例生成刷新地址序列，利用刷新地址序列依次对配置帧进行扫描并检查正确性，得到防护后电路。同时提供了一种刷新器。随机故障注入测试的结果显示，本发明所提供的基基于关键度的FPGA软错误多频度刷新方法及刷新器，相比盲刷新技术，系统出错率平均下降了20％，实现了对电路软错误的有效保护。

公开(公告)号：CN109634797A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201811550639.1

申请日：2018-12-18

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 付宇卓 ,  张金铃 ,  刘婷 ,  游红俊

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/34

CPC classification number: G06F11/3457 ,  G06F11/2273

Abstract: 本发明公开了一种利用寄存器屏蔽窗口分析寄存器架构敏感因子的方法，包括如下步骤：步骤S1，将单事件翻转SEU在寄存器中的屏蔽效应分为指令内屏蔽效应和指令间屏蔽效应，并确定相应的屏蔽机理，进行相应的计算；步骤S2，采用寄存器屏蔽窗口表示寄存器中SEU被屏蔽的比特位集合，利用寄存器屏蔽窗口的并集、交集运算计算寄存器中SEU的屏蔽因子；步骤S3，于程序运行时，动态构建寄存器屏蔽窗口关系图；步骤S4，于程序运行结束后，根据所述寄存器屏蔽窗口关系图计算寄存器架构敏感因子AVF，通过本发明，可提高寄存器的AVF值评估精度。

公开(公告)号：CN109542670A

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201811440818.X

申请日：2018-11-29

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天电子通讯设备研究所

Inventor： 景乃锋 ,  郑思杰 ,  贺光辉 ,  斯涛 ,  蒋剑飞 ,  王琴 ,  游红俊

IPC: G06F11/10

Abstract: 本发明提供了一种基于错误快速定位的FPGA软错误刷新方法，包括如下步骤：步骤S1，识别电路设计中软错误高敏感的部分；步骤S2，对软错误高敏感的部分进行备份，并获取比较器输出与发生软错误配置存储器之间的位置信息对应关系，即进行软错误定位；步骤S3，在FPGA上存储获取的位置信息对应关系，在实际电路运行时利用刷新器硬件解析比较器输出，获得发生软错误配置存储器的位置信息，从而进行错误的准确定位和刷新。同时提供了一种刷新器。采取的随机故障注入结果显示，对所有电路进行保护的情况下，本发明平均有16％的软错误缓解性能提升，平均缩短了45％的电路平均错误检测时间，实现了对电路软错误的有效保护。

公开(公告)号：CN109542670B

公开(公告)日：2021-09-07

申请号：CN201811440818.X

申请日：2018-11-29

Applicant: 上海交通大学 ,  上海航天电子通讯设备研究所

Inventor： 景乃锋 ,  郑思杰 ,  贺光辉 ,  斯涛 ,  蒋剑飞 ,  王琴 ,  游红俊

IPC: G06F11/10

Abstract: 本发明提供了一种基于错误快速定位的FPGA软错误刷新方法，包括如下步骤：步骤S1，识别电路设计中软错误高敏感的部分；步骤S2，对软错误高敏感的部分进行备份，并获取比较器输出与发生软错误配置存储器之间的位置信息对应关系，即进行软错误定位；步骤S3，在FPGA上存储获取的位置信息对应关系，在实际电路运行时利用刷新器硬件解析比较器输出，获得发生软错误配置存储器的位置信息，从而进行错误的准确定位和刷新。同时提供了一种刷新器。采取的随机故障注入结果显示，对所有电路进行保护的情况下，本发明平均有16％的软错误缓解性能提升，平均缩短了45％的电路平均错误检测时间，实现了对电路软错误的有效保护。