公开(公告)号：CN119164940A

公开(公告)日：2024-12-20

申请号：CN202411498854.7

申请日：2024-10-25

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 陈娟 ,  洪志远 ,  王廷炎 ,  彭立明 ,  张轶童 ,  唐莲

IPC: G01N21/78 ,  G02F1/00 ,  G02F1/01 ,  G01N21/75 ,  G01N21/77

Abstract: 本发明提供了一种基于镁基氢致变色薄膜的光学氢气传感器，包括基板和遮光外壳，基板和遮光外壳可拆卸连接；所述基板上设置有敏感单元、传感单元、显示单元、微处理器、光源、电源；其中敏感单元与传感单元隔离，传感单元不与氢气接触，敏感单元无需加热或供电。本发明利用氢致变色现象实现对氢气浓度的监测，利用镁基氢致变色薄膜本征高响应性，高选择性，高安全性，高耐久性的特点，克服了当前氢气传感器所面临的问题。本发明低成本，低功耗，低操作难度，低环境要求，在氢气传感领域具有重要的应用前景。

公开(公告)号：CN116718620A

公开(公告)日：2023-09-08

申请号：CN202310780012.X

申请日：2023-06-29

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 方浩澜 ,  张祯 ,  陈娟 ,  洪志远 ,  王廷炎 ,  彭立明

IPC: G01N23/20008

Abstract: 本发明公开了一种超薄钯/镁基薄膜透射电镜样品及其制备方法，所述方法为先在超薄钯/镁基薄膜表面沉积一个碳氟高分子保护膜层，随后对于复合膜层利用聚焦离子束(FIB)完成透射电镜试样的加工过程。本方法利用氟碳高分子保护膜层对于金属膜层之间扩散的抑制作用，可减小聚焦离子束加工过程所需的Pt膜向待加工钯/镁基薄膜试样中的扩散，避免试样结构遭到破坏。该方法操作简便，且能显著消除Pt层对于待加工样品结构分析的干扰，在薄膜的透射显微分析领域具有重要的应用前景。