时空耦合动态特性分析系统

    公开(公告)号:CN101916097A

    公开(公告)日:2010-12-15

    申请号:CN201010242099.8

    申请日:2010-07-30

    CPC classification number: Y02P90/02

    Abstract: 一种半导体制造系统技术领域的时空耦合动态特性分析系统,包括:GUI模块、信息预处理模块和时空耦合动态特性稳定阈值分析模块,本发明具有能够对半导体制造系统的时空耦合动态特性稳定阈值进行定量检测分析的功能,从而为半导体制造系统的控制提供决策依据,提高半导体制造系统的控制优化能力。

    面向客户需求的车间作业调度方法

    公开(公告)号:CN101303749A

    公开(公告)日:2008-11-12

    申请号:CN200810039189.X

    申请日:2008-06-19

    Abstract: 一种自动控制与信息技术领域的面向客户需求的车间作业调度方法,步骤为:第一步,客户通过验证模块获得许可信息,将需求信息经过浏览器传输至代理服务器中,代理服务器将接收到的客户需求信息整理形成车间作业任务清单,并传至调度决策模块,调度决策模块启动基于二阶优化遗传算法的调度流程。第二步,基于二阶优化遗传算法的调度流程,对车间作业任务进行排序,并获得适应度值最高的个体;第三步,结果输出通过对适应度值最高的个体进行解码,形成甘特图,为客户提供相应的提货时间信息,为车间管理人员提供执行任务的具体安排。本发明能够有效的进行车间作业调度过程,实现车间作业调度的自动化。

    用于混合并行机和作业车间的组批动态控制方法

    公开(公告)号:CN102360178B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201110235002.5

    申请日:2011-08-16

    Inventor: 张洁 朱琼

    Abstract: 本发明公开了一种用于混合并行机和作业车间的组批动态控制方法,包括以下步骤:A、对动态事件进行预处理;B、建立生产控制模型;C、对多个任务进行动态组批,获得在动态事件影响下任务在资源上的安排结果;D、对所述结果进行有效性和稳定性分析,以评价生产控制结果的鲁棒性。本发明的方法通过在生产控制过程中考虑制造系统的各种动态事件,获得针对车间动态事件进行调整后的生产安排,显著提高制造系统运行过程的鲁棒性。

    面向客户需求的车间作业调度系统

    公开(公告)号:CN101295379A

    公开(公告)日:2008-10-29

    申请号:CN200810039190.2

    申请日:2008-06-19

    Abstract: 一种面向客户需求的车间作业调度系统属于计算机应用技术领域。本发明包括:客户端和服务器端。服务器端包括网络信息服务器模块、代理服务器模块、验证服务器模块、任务输入模块、任务序列生成模块、任务序列调整模块、调度时间指标生成模块、调度成本指标生成模块、任务序列选择模块、甘特图绘制模块和调度结果输出模块。本发明工作过程分为生产任务录入流程、调度流程和结果输出流程3部分,这3个部分按顺序执行。本发明适用于国有中小型企业中进行生产计划调度,可改变企业中目前手工进行生产调度的落后现状,实现作业调度过程的自动化,有利于企业高效、有序的完成客户需求的任务,并有助于与客户进行实时沟通。

    用于混合并行机和作业车间的组批动态控制方法

    公开(公告)号:CN102360178A

    公开(公告)日:2012-02-22

    申请号:CN201110235002.5

    申请日:2011-08-16

    Inventor: 张洁 朱琼

    Abstract: 本发明公开了一种用于混合并行机和作业车间的组批动态控制方法,包括以下步骤:A、对动态事件进行预处理;B、建立生产控制模型;C、对多个任务进行动态组批,获得在动态事件影响下任务在资源上的安排结果;D、对所述结果进行有效性和稳定性分析,以评价生产控制结果的鲁棒性。本发明的方法通过在生产控制过程中考虑制造系统的各种动态事件,获得针对车间动态事件进行调整后的生产安排,显著提高制造系统运行过程的鲁棒性。

    半导体制造系统的日产出量预测系统

    公开(公告)号:CN101404072A

    公开(公告)日:2009-04-08

    申请号:CN200810202312.5

    申请日:2008-11-06

    CPC classification number: Y02P90/02 Y02P90/18 Y02P90/30

    Abstract: 一种半导体制造领域的半导体制造系统的日产出量预测系统,本发明中,GUI模块负责与用户和其他模块进行交互;日产出量时间序列的相空间重构模块获得日产出量时间序列,对日产出量时间序列进行预处理后,将经过重构处理的日产出量时间序列输出给GUI模块和神经网络模块;神经网络模块进行日产出量时间序列的预测处理,并将预测处理结果输出到神经网络的参数训练处理模块和GUI模块;神经网络参数的训练处理模块对神经网络模块中的隐含层和输出层权值参数进行训练处理。本发明提高了半导体生产线的日产出量预测的准确性和精度。

    复杂制造系统性能参数信息检测系统

    公开(公告)号:CN101893888A

    公开(公告)日:2010-11-24

    申请号:CN201010241322.7

    申请日:2010-07-30

    CPC classification number: Y02P90/02 Y02P90/26

    Abstract: 一种复杂制造系统的性能参数信息检测系统,包括:客户端、信息预处理模块和复杂制造系统性能参数信息检测模块。本发明中通过AOCKTSPN技术,构建制造系统的模拟模型,设置控制策略、交互协议,进行制造系统运行过程仿真,检测获取制造系统的运行性能参数信息。从而为真实企业中制造系统参数信息设置提供依据。因此,对现实企业中,指导各种制造系统的优化控制具有明显的现实意义。

    时空耦合动态特性分析系统

    公开(公告)号:CN101916097B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010242099.8

    申请日:2010-07-30

    CPC classification number: Y02P90/02

    Abstract: 一种半导体制造系统技术领域的时空耦合动态特性分析系统,包括:GUI模块、信息预处理模块和时空耦合动态特性稳定阈值分析模块,本发明具有能够对半导体制造系统的时空耦合动态特性稳定阈值进行定量检测分析的功能,从而为半导体制造系统的控制提供决策依据,提高半导体制造系统的控制优化能力。

    复杂制造系统性能参数信息检测系统

    公开(公告)号:CN101893888B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010241322.7

    申请日:2010-07-30

    CPC classification number: Y02P90/02 Y02P90/26

    Abstract: 一种复杂制造系统的性能参数信息检测系统,包括:客户端、信息预处理模块和复杂制造系统性能参数信息检测模块。本发明中通过AOCKTSPN技术,构建制造系统的模拟模型,设置控制策略、交互协议,进行制造系统运行过程仿真,检测获取制造系统的运行性能参数信息。从而为真实企业中制造系统参数信息设置提供依据。因此,对现实企业中,指导各种制造系统的优化控制具有明显的现实意义。

    半导体制造系统的日产出量预测系统

    公开(公告)号:CN101404072B

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN200810202312.5

    申请日:2008-11-06

    CPC classification number: Y02P90/02 Y02P90/18 Y02P90/30

    Abstract: 一种半导体制造领域的半导体制造系统的日产出量预测系统,本发明中,GUI模块负责与用户和其他模块进行交互;日产出量时间序列的相空间重构模块获得日产出量时间序列,对日产出量时间序列进行预处理后,将经过重构处理的日产出量时间序列输出给GUI模块和神经网络模块;神经网络模块进行日产出量时间序列的预测处理,并将预测处理结果输出到神经网络的参数训练处理模块和GUI模块;神经网络参数的训练处理模块对神经网络模块中的隐含层和输出层权值参数进行训练处理。本发明提高了半导体生产线的日产出量预测的准确性和精度。

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