超低温环境下的高精度纳米力学检测系统

    公开(公告)号:CN111811939A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN202010714529.5

    申请日:2020-07-21

    Abstract: 本发明公开了一种超低温环境下的高精度纳米力学检测系统,包括低温系统单元,用于提供稳定的常压非真空低温清洁环境;壳体,置于罐体和低温液体的液面围成的上部空间中;探针,固定于壳体中,且探针上设有微悬臂;光学检测单元,包括激光光路单元和激光探测单元;处理单元,用于将电信号转变成微悬臂的偏折量;反馈与执行单元,包括压电陶瓷管,压电陶瓷管用于调节样品和探针之间的相对位移。本发明将系统保持在低温,利用冷阱作用,降低测量空间污染物,进而对材料或单分子进行稳定的超低温高精度力学测量,拓展了纳米力学测量的温度应用范围。

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