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公开(公告)号：CN117115083B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202310892349.X
申请日：2023-07-20
Applicant: 上海交通大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/80 , G06V10/764 , G01J9/00
Abstract: 本发明涉及一种夏克哈特曼波前传感器误差评估方法，包括通过夏克哈特曼波前传感器测量被测波前，获取夏克哈特曼波前传感器系统参数；分析传感器不同误差源的取值范围，并通过各误差源的取值范围随机抽样一组误差值；构建夏克哈特曼光学模型，并获得标准波前与被测波前经过微透镜聚焦后成像在图像传感器上的标准光斑阵列及被测光斑阵列；计算被测波前斜率分布，重建被测波前，并计算测量残差；随机抽样误差，重复执行以上步骤；根据不同抽样误差下的测量残差，评定夏克哈特曼波前传感器对被测波前的测量不确定度。与现有技术相比，本发明通过多次误差抽样实现夏克哈特曼传感器综合测量不确定度评估，具有评定任意测量波前误差的优势。
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公开(公告)号：CN117870879B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202311694390.2
申请日：2023-12-12
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明涉及一种基于全局光斑匹配的夏克哈德曼波前检测方法，包括通过夏克哈特曼波前传感器采集被测波前成像后的测量光斑图像；通过阈值分割算法和特征点提取算法获取测量光斑特征点集；随机生成M组波前表征参数，产生M个入射波前；通过构建夏克哈特曼波前传感器光学模型来获得估计光斑图像，并计算M组估计光斑特征点集；构建全局光斑匹配目标函数，评估M组估计光斑特征点集与测量光斑特征点集之间的差异，从而根据迭代匹配算法更新波前表征参数；重复执行以上步骤，直至达到阈值条件，获得最佳入射波前，从而计算匹配各微透镜的对应聚焦光斑位置，重建被测波前。与现有技术相比，本发明具有动态范围广、鲁棒性强等优点。
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公开(公告)号：CN117870879A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311694390.2
申请日：2023-12-12
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明涉及一种基于全局光斑匹配的夏克哈德曼波前检测方法，包括通过夏克哈特曼波前传感器采集被测波前成像后的测量光斑图像；通过阈值分割算法和特征点提取算法获取测量光斑特征点集；随机生成M组波前表征参数，产生M个入射波前；通过构建夏克哈特曼波前传感器光学模型来获得估计光斑图像，并计算M组估计光斑特征点集；构建全局光斑匹配目标函数，评估M组估计光斑特征点集与测量光斑特征点集之间的差异，从而根据迭代匹配算法更新波前表征参数；重复执行以上步骤，直至达到阈值条件，获得最佳入射波前，从而计算匹配各微透镜的对应聚焦光斑位置，重建被测波前。与现有技术相比，本发明具有动态范围广、鲁棒性强等优点。
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公开(公告)号：CN117115083A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310892349.X
申请日：2023-07-20
Applicant: 上海交通大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/80 , G06V10/764 , G01J9/00
Abstract: 本发明涉及一种夏克哈特曼波前传感器误差评估方法，包括通过夏克哈特曼波前传感器测量被测波前，获取夏克哈特曼波前传感器系统参数；分析传感器不同误差源的取值范围，并通过各误差源的取值范围随机抽样一组误差值；构建夏克哈特曼光学模型，并获得标准波前与被测波前经过微透镜聚焦后成像在图像传感器上的标准光斑阵列及被测光斑阵列；计算被测波前斜率分布，重建被测波前，并计算测量残差；随机抽样误差，重复执行以上步骤；根据不同抽样误差下的测量残差，评定夏克哈特曼波前传感器对被测波前的测量不确定度。与现有技术相比，本发明通过多次误差抽样实现夏克哈特曼传感器综合测量不确定度评估，具有评定任意测量波前误差的优势。
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