公开(公告)号：CN1122218C

公开(公告)日：2003-09-24

申请号：CN96118568.6

申请日：1996-12-09

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  三菱电机半导体软件株式会社

Inventor： 三川行治 ,  谷隆浩 ,  上沟忠辉

IPC: G06F11/26

CPC classification number: G11C29/785 ,  G06F11/261 ,  H01L22/22 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种半导体电路逻辑验证装置，它能全面地、高速地进行激光微调熔丝元件的逻辑验证，它备有根据半导体电路的设计图数据和逻辑电路图数据，取出有关激光微调熔丝元件的信息的装置；根据取出的激光微调熔丝元件信息，生成表示激光微调熔丝元件被切断的命令串的装置；根据存储单元阵列模型，生成不良位存储单元阵列模型的装置；及根据对半导体电路模型的命令串，进行逻辑模拟的装置。

公开(公告)号：CN1169560A

公开(公告)日：1998-01-07

申请号：CN96118568.6

申请日：1996-12-09

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  三菱电机半导体软件株式会社

Inventor： 三川行治 ,  谷隆浩 ,  上沟忠辉

IPC: G06F11/26

CPC classification number: G11C29/785 ,  G06F11/261 ,  H01L22/22 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种半导体电路逻辑验证装置,它能全面地、高速地进行激光微调熔丝元件的逻辑验证,它备有根据半导体电路的设计图数据和逻辑电路图数据,取出有关激光微调熔丝元件的信息的装置;根据取出的激光微调熔丝元件信息,生成表示激光微调熔丝元件被切断的命令串的装置;根据存储单元阵列模型,生成不良位存储单元阵列模型的装置;及根据对半导体电路模型的命令串,进行逻辑模拟的装置。