-
公开(公告)号：CN1122218C
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN96118568.6
申请日：1996-12-09
Applicant: 三菱电机株式会社 , 三菱电机半导体软件株式会社
IPC: G06F11/26
CPC classification number: G11C29/785 , G06F11/261 , H01L22/22 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种半导体电路逻辑验证装置，它能全面地、高速地进行激光微调熔丝元件的逻辑验证，它备有根据半导体电路的设计图数据和逻辑电路图数据，取出有关激光微调熔丝元件的信息的装置；根据取出的激光微调熔丝元件信息，生成表示激光微调熔丝元件被切断的命令串的装置；根据存储单元阵列模型，生成不良位存储单元阵列模型的装置；及根据对半导体电路模型的命令串，进行逻辑模拟的装置。
-
公开(公告)号：CN1108662C
公开(公告)日：2003-05-14
申请号：CN97103357.9
申请日：1997-03-20
Applicant: 三菱电机半导体软件株式会社 , 三菱电机株式会社
Inventor： 泷川浩
IPC: H03L7/08
CPC classification number: H03L7/0898
Abstract: 在现有技术中，由于不能以简单地改变VCO控制电压VCP，所以就遇到不能使PLL的锁定速度和稳定度两者同时提高的问题。本发明通过输入误差信号*UP，使电容11的预充电电荷通过NMOS晶体管N11放电。从而使电容11的一端电压降低，转而使连接在电容11上的电荷泵控制晶体管P12的导通电阻作非线性下降。通过这样的做法，使VCO控制电压VCP在误差信号*UP脉冲宽度变窄的时候降低，在变宽的时候升高。
-
公开(公告)号：CN1088223C
公开(公告)日：2002-07-24
申请号：CN95115347.1
申请日：1995-08-11
Applicant: 三菱电机半导体软件株式会社 , 三菱电机株式会社
Inventor： 藤冈宗三
IPC: G06K19/00
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G06Q20/357 , G07F7/1025
Abstract: 如果一个存储器的系统区包括第一信息，指示要求核对系统口令区中存储的系统口令，只有当口令核对的结果是口令完全一样时，才许可一个外部装置存取该系统区。如果系统区不包括第一信息，能够许可外部装置不用口令核对就存取。
-
公开(公告)号：CN1132374A
公开(公告)日：1996-10-02
申请号：CN95115347.1
申请日：1995-08-11
Applicant: 三菱电机半导体软件株式会社 , 三菱电机株式会社
Inventor： 藤冈宗三
IPC: G06K19/00
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G06Q20/357 , G07F7/1025
Abstract: 如果一个存储器的系统区包括第一信息，指示要求核对系统口令区中存储的系统口令，只有当口令核对的结果是口令完全一样时，才许可一个外部装置存取该系统区。如果系统区不包括第一信息，能够许可外部装置不用口令核对就存取。
-
公开(公告)号：CN1123974C
公开(公告)日：2003-10-08
申请号：CN97102566.5
申请日：1997-02-25
Applicant: 三菱电机半导体软件株式会社 , 三菱电机株式会社
Inventor： 藤井岳志
IPC: H03M1/02
CPC classification number: G06F9/3001 , G06F9/30069
Abstract: 在存于AD寄存器1中的位数据D0～D4的数目已超过了CPU2一次所能读出的位数的情况下，因为不能一次读出已存于AD寄存器1中位数据D0～D4的值，由于必须分成两次以上读出，故存在着不能迅速地识别作为AD转换结果的数字数据的问题。本发明解决这一问题的方法是：当从读出信号输出部分22输出低位4位读出指令信号c时，跳越电路25把与存于AD寄存器1中的位数据D0～D4中的高位2位数据D4的值对应的跳越信号e输出至CPU21中去。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1199206A
公开(公告)日：1998-11-18
申请号：CN97122966.X
申请日：1997-11-28
Applicant: 三菱电机株式会社 , 三菱电机半导体软件株式会社
Inventor： 藤冈宗三
IPC: G06K19/07
CPC classification number: G07F7/1008 , G06K7/0008 , G06K19/0723 , G06K19/073 , G06Q20/341 , G07F7/082 , G11C7/065 , G11C7/08 , G11C7/24 , G11C16/22
Abstract: 一种可以提高数据保密性的IC卡,具有:接口部;存储指定口令的存储器部;读出数据的读出放大电路;检查是否已完成数据读出、结束时输出读出结束信号的读出结束检测部;对存储器部和读出放大电路的动作进行控制的控制电路。当口令与存储在存储器部的口令进行对照时,在还没有读出结束信号的情况下,该控制电路不理睬数据读出/写入装置来的命令,同时进行错误处理。
-
公开(公告)号：CN1178346A
公开(公告)日：1998-04-08
申请号：CN97102566.5
申请日：1997-02-25
Applicant: 三菱电机半导体软件株式会社 , 三菱电机株式会社
Inventor： 藤井岳志
IPC: G06F15/00
CPC classification number: G06F9/3001 , G06F9/30069
Abstract: 在存于AD寄存器1中的位数据D0～D4的数目已超过了CPU2一次所能读出的位数的情况下,因为不能一次读出已存于AD寄存器1中位数据D0～D4的值,由于必须分成两次以上读出,故存在着不能迅速地识别作为AD转换结果的数字数据的问题。本发明解决这一问题的方法是:当从读出信号输出部分22输出低位4位读出指令信号c时,跳越电路25把与存于AD寄存器1中的位数据D0～D4中的高位2位数据D4的值对应的跳越信号e输出至CPU21中去。
-
公开(公告)号：CN1169560A
公开(公告)日：1998-01-07
申请号：CN96118568.6
申请日：1996-12-09
Applicant: 三菱电机株式会社 , 三菱电机半导体软件株式会社
IPC: G06F11/26
CPC classification number: G11C29/785 , G06F11/261 , H01L22/22 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种半导体电路逻辑验证装置,它能全面地、高速地进行激光微调熔丝元件的逻辑验证,它备有根据半导体电路的设计图数据和逻辑电路图数据,取出有关激光微调熔丝元件的信息的装置;根据取出的激光微调熔丝元件信息,生成表示激光微调熔丝元件被切断的命令串的装置;根据存储单元阵列模型,生成不良位存储单元阵列模型的装置;及根据对半导体电路模型的命令串,进行逻辑模拟的装置。
-
公开(公告)号：CN1118938C
公开(公告)日：2003-08-20
申请号：CN96118578.3
申请日：1996-12-06
Applicant: 三菱电机株式会社 , 三菱电机半导体软件株式会社
Inventor： 松原利之
IPC: H03L7/08
CPC classification number: G06K19/0701 , G06K19/0723 , G06K19/073 , H03K3/014 , H03K3/03 , H03K3/354
Abstract: 本发明涉及一种压控振荡器，旨在解决在2个电容器残存电荷的状态下再启动时不振荡的技术问题。即使在电容器220、320残存了电荷的状态下VCO起动，则由于差动电路240、340的输出都成为H电平，因此N沟道晶体管209、309均为导通状态。由于栅极连接N沟道晶体管209、309的漏极，因此N沟道晶体管210、310均为关断状态。从而，作为闩锁电路110的2个输出点的C、D点的电平不会同时成为L电平。
-
公开(公告)号：CN1088875C
公开(公告)日：2002-08-07
申请号：CN95116986.6
申请日：1995-08-31
Applicant: 三菱电机株式会社 , 三菱电机半导体软件株式会社
Inventor： 藤冈宗三
IPC: G06K19/07
CPC classification number: G07F7/1008 , G06Q20/341 , G06Q20/357
Abstract: 在一种集成电路卡中，用户区具有使写口令有效的第一区和使读口令有效的第二区。当第一区的写命令与一个口令一起从读/写装置发送时，对该口令与写口令进行检验。当第二区的读命令与一个口令一起发送时，对该口令与读口令进行检验。检验结果是，当口令相同时，执行各命令。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
21
records
(took 0.039 seconds)
