电力用半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN107078127B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201480083227.5

    申请日:2014-11-07

    Abstract: 具有:电力用半导体元件;控制元件;第1及第2引线框,它们分别保持电力用半导体元件和控制元件;第1金属配线,其将电力用半导体元件和第1引线框电连接;第2金属配线,其将电力用半导体元件和控制元件电连接;以及封装体,其对它们进行覆盖,第1引线框包含有:芯片焊盘,其具有搭载有电力用半导体元件的搭载面;以及第1内部引线,其具有与第1金属配线的一端连接的连接面,在封装体的表面中的与沿搭载面的方向相交叉的侧面,在第1及第2引线框没有从此处凸出的侧面部分,形成有与其他区域相比表面粗糙度大的树脂注入口痕迹,树脂注入口痕迹在从沿搭载面的方向观察时,相对于连接面而形成在第1金属配线所在侧的相反侧。

    电力用半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN107078127A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201480083227.5

    申请日:2014-11-07

    Abstract: 具有:电力用半导体元件;控制元件;第1及第2引线框,它们分别保持电力用半导体元件和控制元件;第1金属配线,其将电力用半导体元件和第1引线框电连接;第2金属配线,其将电力用半导体元件和控制元件电连接;以及封装体,其对它们进行覆盖,第1引线框包含有:芯片焊盘,其具有搭载有电力用半导体元件的搭载面;以及第1内部引线,其具有与第1金属配线的一端连接的连接面,在封装体的表面中的与沿搭载面的方向相交叉的侧面,在第1及第2引线框没有从此处凸出的侧面部分,形成有与其他区域相比表面粗糙度大的树脂注入口痕迹,树脂注入口痕迹在从沿搭载面的方向观察时,相对于连接面而形成在第1金属配线所在侧的相反侧。

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