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公开(公告)号：CN1624783A
公开(公告)日：2005-06-08
申请号：CN200410100026.X
申请日：2002-11-29
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/082 , G11B7/22 , H01S5/02212 , H01S5/02268 , H01S5/02296 , H01S5/4031 , H01S5/4087
Abstract: 一种半导体激光器单元包括：在激光器束发射方向上被彼此相互平行设置的多个半导体激光器元件；以及一个用于定位且固定所述多个半导体激光器元件的底座。所述多个半导体激光器元件被如此设置，以便于从所述多个半导体激光器元件中象散最大的半导体激光器元件发射的激光束的轴与所述底座的参考轴重合。在所述半导体激光器单元被设置在光学头装置上的情况下，所述多个激光束的聚焦特征可以得到改善。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104637500A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410642312.2
申请日：2014-11-11
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/13 , G11B7/1372
Abstract: 本发明提供一种透镜位置检测方法和装置、以及透镜位置调整方法和装置，其目的在于能够以简单且廉价的装置结构进行透镜的位置检测。取得在光头(5)上搭载的透镜(6)的图像，从取得的透镜(6)的图像中抽取透镜(6)的圆形状的边缘、透镜(6)的外形(60)、透镜(6)的边缘面(61)、构成透镜(6)的形状的拐点部分的边界线(65)或透镜(6)的衍射光栅(68)的特征点群，进行多次从所抽取的特征点群中抽取3个点并根据所抽取的3个点的坐标求取透镜(6)的中心的坐标这样的处理，对通过多次处理所得到的中心点的坐标进行平均，由此求取透镜(6)的中心的坐标。
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公开(公告)号：CN100375173C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200410100026.X
申请日：2002-11-29
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/082 , G11B7/22 , H01S5/02212 , H01S5/02268 , H01S5/02296 , H01S5/4031 , H01S5/4087
Abstract: 一种半导体激光器单元包括：在激光器束发射方向上被彼此相互平行设置的多个半导体激光器元件；以及一个用于定位且固定所述多个半导体激光器元件的底座。所述多个半导体激光器元件被如此设置，以便于从所述多个半导体激光器元件中象散最大的半导体激光器元件发射的激光束的轴与所述底座的参考轴重合。在所述半导体激光器单元被设置在光学头装置上的情况下，所述多个激光束的聚焦特征可以得到改善。
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公开(公告)号：CN1203599C
公开(公告)日：2005-05-25
申请号：CN02152960.4
申请日：2002-11-29
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01S5/40
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/082 , G11B7/22 , H01S5/02212 , H01S5/02268 , H01S5/02296 , H01S5/4031 , H01S5/4087
Abstract: 一种半导体激光器单元包括：在激光器束发射方向上被彼此相互平行设置的多个半导体激光器元件；以及一个用于定位且固定所述多个半导体激光器元件的底座。所述多个半导体激光器元件被如此设置，以便于从所述多个半导体激光器元件中象散最大的半导体激光器元件发射的激光束的轴与所述底座的参考轴重合。在所述半导体激光器单元被设置在光学头装置上的情况下，所述多个激光束的聚焦特征可以得到改善。
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公开(公告)号：CN104637500B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201410642312.2
申请日：2014-11-11
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G11B7/1374
Abstract: 本发明提供一种透镜位置检测方法和装置、以及透镜位置调整方法和装置，其目的在于能够以简单且廉价的装置结构进行透镜的位置检测。取得在光头(5)上搭载的透镜(6)的图像，从取得的透镜(6)的图像中抽取透镜(6)的圆形状的边缘、透镜(6)的外形(60)、透镜(6)的边缘面(61)、构成透镜(6)的形状的拐点部分的边界线(65)或透镜(6)的衍射光栅(68)的特征点群，进行多次从所抽取的特征点群中抽取3个点并根据所抽取的3个点的坐标求取透镜(6)的中心的坐标这样的处理，对通过多次处理所得到的中心点的坐标进行平均，由此求取透镜(6)的中心的坐标。
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公开(公告)号：CN1463060A
公开(公告)日：2003-12-24
申请号：CN02152960.4
申请日：2002-11-29
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01S5/40
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/082 , G11B7/22 , H01S5/02212 , H01S5/02268 , H01S5/02296 , H01S5/4031 , H01S5/4087
Abstract: 一种半导体激光器单元包括：在激光器束发射方向上被彼此相互平行设置的多个半导体激光器元件；以及一个用于定位且固定所述多个半导体激光器元件的底座。所述多个半导体激光器元件被如此设置，以便于从所述多个半导体激光器元件中象散最大的半导体激光器元件发射的激光束的轴与所述底座的参考轴重合。在所述半导体激光器单元被设置在光学头装置上的情况下，所述多个激光束的聚焦特征可以得到改善。
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