集成电路装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1096023C

    公开(公告)日:2002-12-11

    申请号:CN97111297.5

    申请日:1997-05-23

    CPC classification number: G06F12/0891 G06F1/26 Y02D10/13

    Abstract: 提供具备控制处理电路及存储电路的工作的控制电路,并且操作性好的集成电路装置。如果从CPU1向控制器5中具备的寄存器RG写入“10”,则输入到门10一个输入端子上的CPU用的时钟屏蔽信号CMS1的逻辑为“0”,时钟信号CLK被门10切断不能传到CPU1上。由此,CPU1停止,抑制了CPU1中的功耗。为了从该状态恢复,使用者经由端子T1把中断请求输入到控制器5上。

    集成电路装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1186275A

    公开(公告)日:1998-07-01

    申请号:CN97111297.5

    申请日:1997-05-23

    CPC classification number: G06F12/0891 G06F1/26 Y02D10/13

    Abstract: 提供具备控制处理电路及存储电路的工作的控制电路,并且操作性好的集成电路装置。如果从CPU1向控制器5中具备的寄存器RG写入“10”,则输入到门10一个输入端子上的CPU用的时钟屏蔽信号CMS1的逻辑为“0”,时钟信号CLK被门10切断不能传到CPU1上。由此,CPU1停止,抑制了CPU1中的功耗。为了从该状态恢复,使用者经由端子T1把中断请求输入到控制器5上。

    搭载有DRAM的半导体集成电路

    公开(公告)号:CN1152431C

    公开(公告)日:2004-06-02

    申请号:CN98109329.9

    申请日:1998-05-27

    Inventor: 岩田俊一

    CPC classification number: G11C11/406 G11C29/02

    Abstract: 每隔固定时间间隔进行更新,所以作成使总线存取与更新合在一起的测试程序很麻烦,测试费时间,在老化测试中不能进行读出干扰测试。在把CPU,DRAM,和总线控制器集成于同一芯片的集成电路中,总线控制器具有更新控制电路。更新控制电路具有:以固定时间间隔输出更新要求的更新要求电路;用与上述固定时间间隔不同的定时输出更新要求的强制更新要求电路;强制性地禁止上述更新要求的更新要求禁止电路。

    搭载有DRAM的半导体集成电路

    公开(公告)号:CN1212464A

    公开(公告)日:1999-03-31

    申请号:CN98109329.9

    申请日:1998-05-27

    Inventor: 岩田俊一

    CPC classification number: G11C11/406 G11C29/02

    Abstract: 每隔固定时间间隔进行更新,所以作成使总线存取与更新合在一起的测试程序很麻烦,测试费时间,在老化测试中不能进行读出干扰测试。在把CPU,DRAM,和总线控制器集成于同一芯片的集成电路中,总线控制器具有更新控制电路。更新控制电路具有:以固定时间间隔输出更新要求的更新要求电路;用与上述固定时间间隔不同的定时输出更新要求的强制更新要求电路;强制性地禁止上述更新要求的更新要求禁止电路。

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