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公开(公告)号：CN106061555A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480076701.1
申请日：2014-04-07
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1031 , A61N5/10 , A61N2005/1087
Abstract: 本发明包括：副射束近似步骤，所述副射束近似步骤使用分别具有高斯分布的多个副射束的集合对粒子射线进行近似；以及副射束剂量分布运算步骤，所述副射束剂量分布运算步骤通过对利用扫描装置将多个副射束的各自的副射束偏转而前进的状态进行仿真，从而运算各自的副射束在患者内部形成的各自的副射束剂量分布，通过将运算出的各自的副射束剂量分布进行累计，从而求出粒子射线在患者内部形成的剂量分布。
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