公开(公告)号：CN115865063A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211137609.4

申请日：2022-09-19

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 江口佳佑 ,  宫崎贵将

IPC: H03K17/0812 ,  H03K17/567 ,  H03K17/687

Abstract: 得到能够提高开关元件的过电流检测精度的半导体装置。开关元件(1)具有主要部分(2)和用于对主要部分(2)的电流值进行检测的电流感测部(3)。控制IC(4)具有对开关元件(1)进行驱动的栅极驱动部(5)。感测电阻(7)连接在主要部分(2)的发射极与电流感测部(3)的发射极之间，形成于控制IC(4)的内部。比较器(8)将施加于感测电阻(7)的感测电压(Vs)与参考电压(Vref)进行比较。切断电路(9)在感测电压(Vs)超过参考电压(Vref)的情况下使开关元件(1)的通电切断。将开关元件(1)的通电切断时的感测电压(Vs)大于或等于1V。

公开(公告)号：CN118137784A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311590699.7

申请日：2023-11-27

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 江口佳佑 ,  宫崎贵将

IPC: H02M1/00 ,  H02M7/00 ,  H02M7/42

Abstract: 涉及半导体装置及电路基板。目的在于提供能够减轻从输入至半导体装置的外部噪声受到的影响的技术。半导体装置(100)具有多个相的半导体元件(30、31、32、33、34、35)、各自对多个相的半导体元件(30、31、32、33、34、35)的驱动进行控制的多个相的控制IC(36、37、38、39)、针对各个相设置的与控制IC(36、37、38、39)连接的多个控制端子。在各相中，多个控制端子具有输入信号端子(2、6、10、14、15、16)、与将电力供给至控制IC(36、37、38、39)的控制电源(40、41、42、43)的正侧连接的控制电源正侧端子(3、7、11、17)、与控制电源(40、41、42、43)的基准电位连接的多个控制电源GND端子。