半导体模块以及半导体模块的制造方法

    公开(公告)号:CN108701621B

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN201780011281.2

    申请日:2017-01-31

    Inventor: 伊藤悠策

    Abstract: 半导体模块具有:半导体元件(2),具有表面电极(22);接合线(3),具有与表面电极(22)接合的接合部(31);第1密封构件(4);以及第2密封构件(5)。第1密封构件(4)对表面电极(22)与接合线(3)接合的部分进行密封。第2密封构件(5)覆盖第1密封构件(4)。第1密封构件(4)与第2密封构件(5)相比弹性率高。

    半导体装置以及电力变换装置

    公开(公告)号:CN111630401A

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN201880087286.8

    申请日:2018-12-03

    Abstract: 提供使用键合导线的电感分量提高劣化探测精度的半导体装置。该提高劣化探测精度的半导体装置具备:第1导体图案(5),形成于绝缘基板(1)上,流过半导体元件(6)的主电流;第2导体图案(3),形成于绝缘基板(1)上,用于检测半导体元件(6)表面电极(8)的电位;第1键合导线(9),连接表面电极(8)和第1导体图案(5);第2键合导线(10),连接表面电极(8)和第2导体图案(3);电压检测部(12),与第1导体图案(5)及第2导体图案(3)连接,检测半导体元件(6)的开关时的第1导体图案(5)与第2导体图案(3)之间的电压差;以及劣化探测部(13),使用检测到的电压差,探测第1键合导线(9)的劣化。

    半导体装置以及电力变换装置

    公开(公告)号:CN111630401B

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN201880087286.8

    申请日:2018-12-03

    Abstract: 提供使用键合导线的电感分量提高劣化探测精度的半导体装置。该提高劣化探测精度的半导体装置具备:第1导体图案(5),形成于绝缘基板(1)上,流过半导体元件(6)的主电流;第2导体图案(3),形成于绝缘基板(1)上,用于检测半导体元件(6)表面电极(8)的电位;第1键合导线(9),连接表面电极(8)和第1导体图案(5);第2键合导线(10),连接表面电极(8)和第2导体图案(3);电压检测部(12),与第1导体图案(5)及第2导体图案(3)连接,检测半导体元件(6)的开关时的第1导体图案(5)与第2导体图案(3)之间的电压差;以及劣化探测部(13),使用检测到的电压差,探测第1键合导线(9)的劣化。

Patent Agency Ranking