公开(公告)号：CN1082249A

公开(公告)日：1994-02-16

申请号：CN93104328.X

申请日：1993-03-18

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 户伏广明 ,  神田智幸 ,  久冈靖 ,  佐佐木茂雄 ,  小林实 ,  小田拓嗣 ,  植田隆治 ,  吉田章男 ,  尾胁忠义 ,  山崎昭彦 ,  木下昌昭 ,  福西俊昭

IPC: H01J9/00

CPC classification number: H04N3/30 ,  H01J9/50 ,  H01J2209/3893 ,  Y02W30/828

Abstract: 在彩色阴极射线管中，为了使荫罩不产生热变形以及使荧光体不发生热变质的前提下，能够有效地除去荫罩上所附着的夹杂物，本发明用阴极射线管本身的电子枪的电子束对彩色阴极射线管的荫罩进行全面的扫描照射，根据这时荧光屏的发光情况检测出荫罩上所附着的夹杂物，使电子束偏转并对合检测出的夹杂物的位置，然后用电子束对夹杂物进行脉冲照射从而把夹杂物加热而将其除去。

公开(公告)号：CN114839498A

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202210020429.1

申请日：2022-01-10

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 尾方济人 ,  久冈靖 ,  野口贵也

IPC: G01R31/26

Abstract: 涉及半导体装置的电气特性检查装置及方法。目的在于提供能够容易地创建与半导体装置的电气特性检查相关的精密的测定条件的技术。电气特性检查装置(100)具有：存储部(101)，存储检查对象即半导体装置(108)的测定条件；控制部(102)，从存储部读出与所实施的检查内容对应的测定条件；感应电感控制电路部(104)，设定针对半导体装置的感应电感(L)；以及杂散电感控制电路部(106)，设定针对半导体装置的杂散电感(Ls)。控制部(102)基于从存储部读出的测定条件，通过对感应电感控制电路部(104)进行控制而调整感应电感(L)，并且通过对杂散电感控制电路部(106)进行控制而调整杂散电感(Ls)。

公开(公告)号：CN1047465C

公开(公告)日：1999-12-15

申请号：CN93104328.X

申请日：1993-03-18

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 户伏广明 ,  神田智幸 ,  久冈靖 ,  佐佐木茂雄 ,  小林实 ,  小田拓嗣 ,  植田隆治 ,  吉田章男 ,  尾胁忠义 ,  山崎昭彦 ,  木下昌昭 ,  福西俊昭

IPC: H01J9/00

CPC classification number: H04N3/30 ,  H01J9/50 ,  H01J2209/3893 ,  Y02W30/828

Abstract: 在彩色阴极射线管中，为了使荫罩不产生热变形以及使荧光体不发生热变质的前提下，能够有效地除去荫罩上所附着的夹杂物，本发明用阴极射线管本身的电子枪的电子束对彩色阴极射线管的萌罩进行全面的扫描照射，根据这时荧光屏的发光情况检测出荫罩上所附着的夹杂物，使电子束偏转并对合检测出的夹杂物的位置，然后用电子束对夹杂物进行脉冲照射从而把夹杂物加热而将其除去。