公开(公告)号：CN1152177A

公开(公告)日：1997-06-18

申请号：CN96107786.7

申请日：1996-05-30

Applicant: 三菱电器半导体软件株式会社 ,  三菱电机株式会社

Inventor： 中村旨生 ,  山本博文 ,  山崎晃稔

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G06F17/5022

Abstract: 在本半导体电路设计验证设备中，其寄生器件恢复部分在输入的设计信息的基础上将寄生在连接构成半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的寄生器件恢复；其时间常数计算部分连同由寄生器件恢复部分恢复的寄生器件一起计算每个有源器件和下一级有源器件之间的时间常数；其输出数据产生部分与半导体电路的设计信息的至少一个部分一起输出与所计算的时间常数有关的信息。

公开(公告)号：CN1093308C

公开(公告)日：2002-10-23

申请号：CN96107786.7

申请日：1996-05-30

Applicant: 三菱电器半导体软件株式会社 ,  三菱电机株式会社

Inventor： 中村旨生 ,  山本博文 ,  山崎晃稔

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G06F17/5022

Abstract: 在本半导体电路设计验证设备中，其寄生器件恢复部分在输入的设计信息的基础上将寄生在连接构成半导体电路的多个有源器件的一个信号线上的寄生器件恢复；其时间常数计算部分连同由寄生器件恢复部分恢复的寄生器件一起计算每个有源器件和下一级有源器件之间的时间常数；其输出数据产生部分与半导体电路的设计信息的至少一个部分一起输出与所计算的时间常数有关的信息。