光拾取装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103026410A

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201180036697.2

    申请日:2011-09-06

    CPC classification number: G11B7/1395 G11B7/1275 G11B7/1365 G11B2007/0006

    Abstract: 本发明的光拾取装置减少采用了窄频带的1/4波片的情况下的返回至激光源部的返回光。其包括:激光源部,其用于选择性地出射第1波长的激光或者第2波长的激光;物镜,其用于将自激光源部出射的激光会聚在光记录介质上;光检测器,其用于检测被光记录介质反射的激光;光分离部,其用于将自激光源部出射的激光引导至物镜,并且,将被光记录介质反射的激光引导至光检测器;1/4波片,其用于将经由光分离部入射的第1波长的激光从直线偏振光转换为圆偏振光,并且,将经由光分离部入射的第2波长的激光从直线偏振光转换为椭圆偏振光;自激光源部出射的第2波长的激光作为第1直线偏振光入射到光分离部,光分离部使经由1/4波片入射的第2波长的激光的相位位移以降低第1直线偏振光的成分。

    光拾取装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102402998A

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN201110272675.8

    申请日:2011-09-14

    CPC classification number: G11B7/1356 G11B7/1275 G11B7/1362 G11B2007/0006

    Abstract: 本发明提供一种光拾取装置。在以往的光拾取装置中,设定多条光路,光学系统零件的数量增加,存在零件的安装作业、光轴调整等作业耗费时间的问题。在本发明的光拾取装置(1)中,使自第一半导体激光装置(2)射出的激光的光路(21)与自第二半导体激光装置(3)射出的激光的光路(20)的大部分共用化。并且,第一激光透射1/4波片(12)和第二反射镜(13)而被第一反射镜(14)反射。采用该构造,能够减少在光拾取装置(1)中配置的光学系统零件的数量,零件的安装作业容易进行,能够缩短光轴调整等作业所需的时间,大幅改善作业效率。

    光拾取装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102402997A

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN201110272487.5

    申请日:2011-09-14

    CPC classification number: G11B7/1356 G11B7/1275 G11B7/1362 G11B2007/0006

    Abstract: 本发明提供一种光拾取装置。在以往的光拾取装置中,设定有多条光路,光学系统零件的数量增加,存在零件的安装作业、光轴调整等作业耗费时间的问题。在本发明的光拾取装置(1)中,使自第一半导体激光装置(2)射出的激光的光路(21)与自第二半导体激光装置(3)射出的激光的光路(20)的大部分共用化。并且,自光盘(17)反射了的激光(返回光)在共用的PDIC(19)处被接收,作为光检测器能够进行准确的受光处理。采用该构造,能够减少在光拾取装置(1)中配置的光学系统零件的数量,零件的安装作业容易进行,能够缩短光轴调整等作业所需的时间,大幅改善作业效率。

    光拾取装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101964197A

    公开(公告)日:2011-02-02

    申请号:CN201010238591.8

    申请日:2010-07-23

    Abstract: 一种光拾取装置,包括:用于发射激光束的激光光源;用于使上述激光束照射到光记录介质上的物镜;设在上述激光光源与上述物镜之间的光路上的分束器,上述分束器具有第一反射膜,该第一反射膜用于反射上述激光束,从而使上述激光束射向上述物镜,上述激光束的射向上述第一反射膜的入射偏振角被设定为:在上述激光束的入射到上述第一反射膜上的直线偏振光成分中,P偏振光成分多于S偏振光成分。

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