用于元件计数的设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103034901A

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201210370824.9

    申请日:2012-09-27

    Inventor: 朴寅洙 郑在然

    CPC classification number: G06M1/272 G06M7/00

    Abstract: 本文公开了一种用于元件计数的设备,该设备包括:分隔件,将多个元件分隔成单个元件;管道,被分隔件隔开的元件移动经过所述管道;计数件,位于管道上,以计算经过管道的元件的数量;以及真空抽吸件,位于管道的远端。因此,可以准确快速地计算微电子元件的数量。此外,通过准确快速地计算电子元件的数量,可以追踪工艺之间产生的电子元件损失。

    使用激光束来计数小电子元件的设备及方法

    公开(公告)号:CN102622648A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201110111981.3

    申请日:2011-04-29

    Abstract: 在此公开了一种使用激光束来计数小电子元件的设备及方法。使用激光束来计数小电子元件的设备包括:供给室,供给小电子元件;光穿透管,连接至供给室的下部,并形成小电子元件下落所经过的路径;激光发射器,发射激光束;光学器件,将由激光发射器发射的激光束转换成水平式光,并将转换而成的水平式光传输至光穿透管侧;以及光电探测器,探测由经过光穿透管的小电子元件散射的光。

    用于计量部件的数量的装置及用于计量部件的数量的方法

    公开(公告)号:CN102682334A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201110195089.8

    申请日:2011-07-12

    Abstract: 本发明提供了一种用于计量部件的数量的装置及用于计量部件的数量的方法,本装置包括:扫描单元,定位在装载有多个部件的托盘上方,并沿部件的装载方向执行激光扫描,以产生用于计量所装载的多个部件的数量的信号束;以及检测单元,用于通过接收所述信号束来检测所装载的多个部件的数量。根据本发明,由于通过自动地且迅速地计量所装载的多个部件的数量以提高计量部件的数量的传统工序的低效率而使制造工序简化并使工序时间缩短,因此可减少制造成本并提高生产率。

    用于元件计数的设备
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103034901B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201210370824.9

    申请日:2012-09-27

    Inventor: 朴寅洙 郑在然

    CPC classification number: G06M1/272 G06M7/00

    Abstract: 本文公开了一种用于元件计数的设备,该设备包括:分隔件,将多个元件分隔成单个元件;管道,被分隔件隔开的元件移动经过所述管道;计数件,位于管道上,以计算经过管道的元件的数量;以及真空抽吸件,位于管道的远端。因此,可以准确快速地计算微电子元件的数量。此外,通过准确快速地计算电子元件的数量,可以追踪工艺之间产生的电子元件损失。

    使用激光束来计数小电子元件的设备及方法

    公开(公告)号:CN102622648B

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201110111981.3

    申请日:2011-04-29

    Abstract: 在此公开了一种使用激光束来计数小电子元件的设备及方法。使用激光束来计数小电子元件的设备包括:供给室,供给小电子元件;光穿透管,连接至供给室的下部,并形成小电子元件下落所经过的路径;激光发射器,发射激光束;光学器件,将由激光发射器发射的激光束转换成水平式光,并将转换而成的水平式光传输至光穿透管侧;以及光电探测器,探测由经过光穿透管的小电子元件散射的光。

Patent Agency Ranking