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公开(公告)号：CN104052432B
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201410099071.1
申请日：2014-03-17
Applicant: 三星电子株式会社 , 加利福尼亚大学圣地亚哥分校
IPC: H03K3/017
Abstract: 提供电源选通电路和包括所述电路的设备。所述电源选通电路包括：触发器，被配置为接收第一供电电压和选通时钟信号以便进行操作；以及开关电路，连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，第一供电电压源被配置为供应第一供电电压，而第二供电电压源被配置为供应第二供电电压。所述开关电路包括第一开关和第二开关，第一开关被配置为连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，并且响应于时钟使能信号而操作，第二开关被配置为连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，并且响应于第一供电电压而操作。
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公开(公告)号：CN104052432A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201410099071.1
申请日：2014-03-17
Applicant: 三星电子株式会社 , 加利福尼亚大学圣地亚哥分校
IPC: H03K3/017
CPC classification number: H03K3/012 , H03K3/356008
Abstract: 提供电源选通电路和包括所述电路的设备。所述电源选通电路包括：触发器，被配置为接收第一供电电压和选通时钟信号以便进行操作；以及开关电路，连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，第一供电电压源被配置为供应第一供电电压，而第二供电电压源被配置为供应第二供电电压。所述开关电路包括第一开关和第二开关，第一开关被配置为连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，并且响应于时钟使能信号而操作，第二开关被配置为连接在第一供电电压源和第二供电电压源之间，并且响应于第一供电电压而操作。
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公开(公告)号：CN1815615B
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200510128859.1
申请日：2005-12-07
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 姜锡亨
CPC classification number: G11B20/1803 , G11B20/1833 , G11B20/1883 , G11B2220/20 , G11B2220/2541 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明涉及一种器件和方法，用于通过计数光媒体(盘)上存储的数据的ECC块内的差错的数量而确定在所述光媒体(盘)上的缺陷区域。缺陷检测一般由差错计数器和比较器电路执行，它用于计数在数据的ECC块中的差错(例如奇偶差错)的发生数量，并且用于将差错的发生的计数数量与所提供的门限相比较。所述门限可以被预设为最大值以区别“可纠正的”和“不可纠正的”差错数量，或者可以被设置为更低以更好地保护所记录的数据并且改善媒体对于随后的划痕、指印等的弹性。当超过所述门限时，将所述区域确定为有缺陷。位置确定单元跟踪被查看的ECC块的位置，并且根据包含所述超过门限的多个差错数量的ECC块的位置来标记缺陷区域的位置。
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公开(公告)号：CN1815615A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200510128859.1
申请日：2005-12-07
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 姜锡亨
CPC classification number: G11B20/1803 , G11B20/1833 , G11B20/1883 , G11B2220/20 , G11B2220/2541 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明涉及一种器件和方法，用于通过计数光媒体(盘)上存储的数据的ECC块内的差错的数量而确定在所述光媒体(盘)上的缺陷区域。缺陷检测一般由差错计数器和比较器电路执行，它用于计数在数据的ECC块中的差错(例如奇偶差错)的发生数量，并且用于将差错的发生的计数数量与所提供的门限相比较。所述门限可以被预设为最大值以区别“可纠正的”和“不可纠正的”差错数量，或者可以被设置为更低以更好地保护所记录的数据并且改善媒体对于随后的划痕、指印等的弹性。当超过所述门限时，将所述区域确定为有缺陷。位置确定单元跟踪被查看的ECC块的位置，并且根据包含所述超过门限的多个差错数量的ECC块的位置来标记缺陷区域的位置。
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