集成电路器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107068680B

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201710063574.7

    申请日:2017-02-03

    Abstract: 本公开涉及集成电路器件。一种集成电路器件包括:在衬底的有源区上的栅线;在栅线两侧于有源区中的一对源/漏区域;在所述对源/漏区域当中的至少一个源/漏区域上的接触插塞;以及在栅线和接触插塞之间的多层结构绝缘间隔物。多层结构绝缘间隔物可以包括:氧化物层;第一含碳绝缘层,其覆盖氧化物层的邻近于栅线的第一表面;以及第二含碳绝缘层,其覆盖氧化物层的邻近于接触插塞的第二表面,第二表面与氧化物层的第一表面相反。

    集成电路器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107068680A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710063574.7

    申请日:2017-02-03

    Abstract: 本公开涉及集成电路器件。一种集成电路器件包括:在衬底的有源区上的栅线;在栅线两侧于有源区中的一对源/漏区域;在所述对源/漏区域当中的至少一个源/漏区域上的接触插塞;以及在栅线和接触插塞之间的多层结构绝缘间隔物。多层结构绝缘间隔物可以包括:氧化物层;第一含碳绝缘层,其覆盖氧化物层的邻近于栅线的第一表面;以及第二含碳绝缘层,其覆盖氧化物层的邻近于接触插塞的第二表面,第二表面与氧化物层的第一表面相反。

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